|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
1. |
А. И. Охапкин, С. А. Краев, Е. А. Архипова, В. М. Данильцев, О. И. Хрыкин, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, “Влияние добавки хлорпентафторэтана в составе хлорсодержащей плазмы на скорость и характеристики профиля травления арсенида галлия”, Физика и техника полупроводников, 55:10 (2021), 837–840 ; A. I. Okhapkin, S. A. Kraev, E. A. Arkhipova, V. M. Daniltsev, O. I. Khrykin, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, “Effect of the chloropentafluoroethane additive in chlorine-containing plasma on the etching rate and etching-profile characteristics of gallium arsenide”, Semiconductors, 55:11 (2021), 865–868 |
2. |
Б. А. Андреев, Д. Н. Лобанов, Л. В. Красильникова, К. Е. Кудрявцев, А. В. Новиков, П. А. Юнин, М. А. Калинников, Е. В. Скороходов, М. В. Шалеев, З. Ф. Красильник, “Особенности структурных и оптических свойств InGaN-слоев, полученных методом МПЭ ПА с импульсной подачей потоков металлов”, Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021), 766–772 |
3. |
А. В. Рыков, Р. Н. Крюков, И. В. Самарцев, П. А. Юнин, В. Г. Шенгуров, А. В. Зайцев, Н. В. Байдусь, “Влияние состава зародышевого слоя AlGaAs на формирование антифазных доменов в структурах (Al)GaAs, выращенных газофазной эпитаксией на подложках Ge/Si(100)”, Письма в ЖТФ, 47:8 (2021), 37–40 ; A. V. Rykov, R. N. Kriukov, I. V. Samartsev, P. A. Yunin, V. G. Shengurov, A. V. Zaitsev, N. V. Baidus, “Effect of the algaas seed layer composition on antiphase domains formation in (Al)GaAs structures grown by vapor-phase epitaxy on Ge/Si(100) substrates”, Tech. Phys. Lett., 47:5 (2021), 413–416 |
1
|
|
2020 |
4. |
А. В. Антонов, А. И. Елькинa, В. К. Васильев, М. А. Галин, Д. В. Мастеров, А. Н. Михайлов, С. В. Морозов, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, Д. И. Тетельбаум, С. С. Уставщиков, П. А. Юнин, Д. А. Савинов, “Экспериментальное наблюдение $s$-компоненты сверхпроводящего спаривания в тонких неупорядоченных пленках ВТСП на основе YBCO”, Физика твердого тела, 62:9 (2020), 1434–1439 ; A. V. Antonov, A. I. Elkina, V. K. Vasil'ev, M. A. Galin, D. V. Masterov, A. N. Mikhaylov, S. V. Morozov, S. A. Pavlov, A. E. Parafin, D. I. Tetelbaum, S. S. Ustavshchikov, P. A. Yunin, D. A. Savinov, “Experimental observation of $s$-component of superconducting pairing in thin disordered HTSC films based on YBCO”, Phys. Solid State, 62:9 (2020), 1598–1603 |
3
|
5. |
В. Н. Сивков, А. М. Объедков, О. В. Петрова, С. В. Некипелов, А. Е. Мингалева, К. В. Кремлев, Б. С. Каверин, Н. М. Семенов, А. В. Кадомцева, С. А. Гусев, П. А. Юнин, Д. А. Татарский, “Синхротронные, рентгеновские и электронно-микроскопические исследования каталитических систем на основе многостенных углеродных нанотрубок, модифицированных наночастицами меди”, Физика твердого тела, 62:1 (2020), 172–179 ; V. N. Sivkov, A. M. Ob'edkov, O. V. Petpova, S. V. Nekipelov, A. E. Mingaleva, K. V. Kremlev, B. S. Kaverin, N. M. Semenov, A. V. Kadomtseva, S. A. Gusev, P. A. Yunin, D. A. Tatarskii, “Synchrotron, X-ray, and electron microscopic studies of catalyst systems based on multiwalled carbon nanotubes modified by copper nanoparticles”, Phys. Solid State, 62:1 (2020), 214–222 |
6
|
6. |
Н. С. Гусев, М. В. Сапожников, О. Г. Удалов, И. Ю. Пашенькин, П. А. Юнин, “Магнитоэлектрический эффект в гибридных системах сегнетоэлектрик/ферромагнитная пленка с анизотропией типа “легкая плоскость” и “легкая ось””, ЖТФ, 90:11 (2020), 1917–1921 ; N. S. Gusev, M. V. Sapozhnikov, O. G. Udalov, I. Yu. Pashen'kin, P. A. Yunin, “The magnetoelectric effect in ferroelectric/ferromagnetic film hybrid systems with easy-plane and easy-axis anisotropy”, Tech. Phys., 65:11 (2020), 1832–1836 |
7. |
Р. М. Смертин, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, П. А. Юнин, А. Л. Тригуб, “Микроструктура переходных границ в многослойных Мо/Ве-системах”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1884–1892 ; R. M. Smertin, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, P. A. Yunin, A. L. Trigub, “The microstructure of transition boundaries in multilayer Mo/Be systems”, Tech. Phys., 65:11 (2020), 1800–1808 |
1
|
8. |
А. Н. Плиговка, П. А. Юнин, А. В. Гога, С. А. Королев, Г. Г. Горох, Е. В. Скороходов, “Морфология и состав дефектированных массивов ниобиевых оксидных неоднородностей, сформированных анодированием двуслойной системы Al/Nb”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1854–1859 ; A. N. Pligovka, P. A. Yunin, A. V. Hoha, S. A. Korolev, G. G. Gorokh, E. V. Skorokhodov, “Morphology and structure of defected niobium oxide nonuniform arrays formed by anodizing bilayer Al/Nb systems”, Tech. Phys., 65:11 (2020), 1771–1776 |
7
|
9. |
Д. В. Мастеров, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, П. А. Юнин, “Возможности метода задающей маски для исследования характеристик планарных ВТСП-структур в зависимости от толщины сверхпроводящей пленки”, ЖТФ, 90:10 (2020), 1677–1680 ; D. V. Masterov, S. A. Pavlov, A. E. Parafin, P. A. Yunin, “Possibilities of the master mask method in analysis of characteristics of planar HTSC structures depending on superconducting film thickness”, Tech. Phys., 65:10 (2020), 1605–1608 |
1
|
10. |
П. Б. Болдыревский, Д. О. Филатов, А. Д. Филатов, И. А. Казанцева, М. В. Ревин, П. А. Юнин, “Исследование элементарных процессов МOC-гидридной эпитаксии наногетероструктур на основе арсенида галлия методом атомно-силовой микроскопии”, ЖТФ, 90:5 (2020), 826–830 ; P. B. Boldyrevskii, D. O. Filatov, А. D. Filatov, I. A. Kazantseva, M. V. Revin, P. A. Yunin, “Atomic force microscopy examination of elementary processes in metalorganic compound hydride epitaxy of GaAs-based nanoheterostructures”, Tech. Phys., 65:5 (2020), 791–794 |
11. |
Ю. А. Данилов, М. В. Ведь, О. В. Вихрова, Н. В. Дикарева, М. Н. Дроздов, Б. Н. Звонков, В. А. Ковальский, Р. Н. Крюков, А. В. Кудрин, В. П. Лесников, П. А. Юнин, А. М. Андреев, “Углеродные пленки, полученные импульсным лазерным методом, и их влияние на свойства GaAs-структур”, Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 868–872 ; Yu. A. Danilov, M. V. Ved, O. V. Vikhrova, N. V. Dikareva, M. N. Drozdov, B. N. Zvonkov, V. A. Koval'skii, R. N. Kriukov, A. V. Kudrin, V. P. Lesnikov, P. A. Yunin, A. M. Andreev, “Carbon films produced by the pulsed laser method and their influence on the properties of GaAs structures”, Semiconductors, 54:9 (2020), 1059–1063 |
2
|
12. |
А. И. Охапкин, П. А. Юнин, Е. А. Архипова, С. А. Краев, С. А. Королев, М. Н. Дроздов, В. И. Шашкин, “Формирование омических контактов к слою алмазоподобного углерода, осажденному на диэлектрическую алмазную подложку”, Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 865–867 ; A. I. Okhapkin, P. A. Yunin, E. A. Arkhipova, S. A. Kraev, S. A. Korolev, M. N. Drozdov, V. I. Shashkin, “Formation of ohmic contacts to a diamond-like carbon layer deposited on a dielectric diamond substrate”, Semiconductors, 54:9 (2020), 1056–1058 |
2
|
13. |
П. А. Юнин, А. И. Охапкин, М. Н. Дроздов, С. А. Королев, Е. А. Архипова, С. А. Краев, Ю. Н. Дроздов, В. И. Шашкин, Д. Б. Радищев, “Модификация соотношения $sp^2/sp^3$-гибридного углерода в PECVD пленках DLC”, Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 855–858 ; P. A. Yunin, A. I. Okhapkin, M. N. Drozdov, S. A. Korolev, E. A. Arkhipova, S. A. Kraev, Yu. N. Drozdov, V. I. Shashkin, D. B. Radishev, “Modification of the ratio between $sp^2/sp^3$-hybridized carbon components in PECVD diamond-like films”, Semiconductors, 54:9 (2020), 1047–1050 |
14. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, А. И. Охапкин, П. А. Юнин, О. А. Стрелецкий, А. Е. Иешкин, “Анализ углеродсодержащих материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии: содержание атомов углерода в $sp^{2}$- и $sp^{3}$-гибридных состояниях”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 38–42 ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, A. I. Okhapkin, P. A. Yunin, O. A. Streletskii, A. E. Ieshkin, “SIMS analysis of carbon-containing materials: content of carbon atoms in $sp^{2}$ and $sp^{3}$ hybridization states”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 290–294 |
6
|
|
2019 |
15. |
С. С. Уставщиков, А. Ю. Аладышкин, В. В. Курин, В. А. Маркелов, А. И. Елькина, А. М. Клушин, П. А. Юнин, В. В. Рогов, Д. Ю. Водолазов, “СВЧ-импеданс тонкопленочных гибридных структур сверхпроводник–нормальный металл с большим отношением проводимостей”, Физика твердого тела, 61:9 (2019), 1722–1728 ; S. S. Ustavshchikov, A. Yu. Aladyshkin, V. V. Kurin, V. A. Markelov, A. I. El'kina, A. M. Klushin, P. A. Yunin, V. V. Rogov, D. Yu. Vodolazov, “Microwave impedance of thin-film superconductor–normal metal hybrid structures with a high conductivity ratio”, Phys. Solid State, 61:9 (2019), 1675–1681 |
16. |
А. В. Антонов, А. В. Иконников, Д. В. Мастеров, А. Н. Михайлов, С. В. Морозов, Ю. Н. Ноздрин, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, Д. И. Тетельбаум, С. С. Уставщиков, П. А. Юнин, Д. А. Савинов, “Отличительные особенности фазовых диаграмм тонких неупорядоченных пленок на основе ВТСП YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-x}$ во внешних магнитных полях”, Физика твердого тела, 61:9 (2019), 1573–1578 ; A. V. Antonov, A. V. Ikonnikov, D. V. Masterov, A. N. Mikhaylov, S. V. Morozov, Yu. N. Nozdrin, S. A. Pavlov, A. E. Parafin, D. I. Tetelbaum, S. S. Ustavshchikov, P. A. Yunin, D. A. Savinov, “Phase diagrams of thin disordered films based on HTSC YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-x}$ in external magnetic fields”, Phys. Solid State, 61:9 (2019), 1523–1528 |
4
|
17. |
Р. М. Смертин, С. А. Гарахин, С. Ю. Зуев, А. Н. Нечай, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, M. G. Sertsu, A. Sokolov, Н. И. Чхало, F. Schäfers, П. А. Юнин, “Влияние термического отжига на свойства многослойных зеркал Mo/Be”, ЖТФ, 89:11 (2019), 1783–1788 ; R. M. Smertin, S. A. Garakhin, S. Yu. Zuev, A. N. Nechai, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, M. G. Sertsu, A. Sokolov, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, P. A. Yunin, “Influence of thermal annealing on the properties of multilayer Mo/Be mirrors”, Tech. Phys., 64:11 (2019), 1692–1697 |
3
|
18. |
Н. С. Гусев, И. Ю. Пашенькин, М. В. Сапожников, О. Г. Удалов, П. А. Юнин, “Магнитострикционный эффект в ферромагнитных пленках с анизотропией типа “легкая ось” и “легкая плоскость””, ЖТФ, 89:11 (2019), 1736–1741 ; N. S. Gusev, I. Yu. Pashen'kin, M. V. Sapozhnikov, O. G. Udalov, P. A. Yunin, “Magnetostriction effect in ferromagnetic films with easy-axis and easy-plane anisotropies”, Tech. Phys., 64:11 (2019), 1646–1651 |
1
|
19. |
Б. А. Андреев, Д. Н. Лобанов, Л. В. Красильникова, П. А. Бушуйкин, А. Н. Яблонский, А. В. Новиков, В. Ю. Давыдов, П. А. Юнин, М. И. Калинников, Е. В. Скороходов, З. Ф. Красильник, “Излучательные свойства сильно легированных эпитаксиальных слоев нитрида индия”, Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1395–1400 ; B. A. Andreev, D. N. Lobanov, L. V. Krasil’nikova, P. A. Bushuikin, A. N. Yablonskii, A. V. Novikov, V. Yu. Davydov, P. A. Yunin, M. I. Kalinnikov, E. V. Skorokhodov, Z. F. Krasil'nik, “Emission properties of heavily doped epitaxial indium-nitride layers”, Semiconductors, 53:10 (2019), 1357–1362 |
2
|
20. |
А. В. Новиков, Д. В. Юрасов, Н. А. Байдакова, П. А. Бушуйкин, Б. А. Андреев, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, А. Н. Яблонский, М. А. Калинников, З. Ф. Красильник, “Сравнительный анализ люминесценции слоев Ge : Sb, выращенных на подложках Ge(001) и Si(001)”, Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1354–1359 ; A. V. Novikov, D. V. Yurasov, N. A. Baidakova, P. A. Bushuikin, B. A. Andreev, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, A. N. Yablonskii, M. A. Kalinnikov, Z. F. Krasil'nik, “Comparative analysis of luminescence properties of Ge : Sb layers grown on Ge(001) and Si(001) substrates”, Semiconductors, 53:10 (2019), 1318–1323 |
1
|
21. |
А. И. Охапкин, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, С. А. Королев, С. А. Краев, Е. А. Архипова, Е. В. Скороходов, П. А. Бушуйкин, В. И. Шашкин, “Плазмохимическое осаждение алмазоподобных пленок на поверхности монокристаллического высоколегированного алмаза”, Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1229–1232 ; A. I. Okhapkin, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, S. Korolev, S. A. Kraev, E. A. Arkhipova, E. V. Skorokhodov, P. A. Bushuikin, V. I. Shashkin, “Plasma-chemical deposition of diamond-like films onto the surface of heavily doped single-crystal diamond”, Semiconductors, 53:9 (2019), 1203–1206 |
3
|
|
2018 |
22. |
Д. В. Мастеров, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, Е. В. Скороходов, П. А. Юнин, “Исследование изолирующей области планарных сверхпроводниковых YBCO-структур, формируемых методом задающей маски”, Физика твердого тела, 60:11 (2018), 2100–2104 |
3
|
23. |
П. Б. Болдыревский, Д. О. Филатов, И. А. Казанцева, М. В. Ревин, Д. С. Смотрин, П. А. Юнин, “Влияние частоты вращения дискового подложкодержателя на кристаллоструктурные характеристики слоев арсенида галлия, формируемых в процессе MOCVD эпитаксии”, ЖТФ, 88:2 (2018), 219–223 ; P. B. Boldyrevskii, D. O. Filatov, I. A. Kazantseva, M. V. Revin, D. S. Smotrin, P. A. Yunin, “Influence of the rotation frequency of a disk substrate holder on the crystal structure characteristics of MOCVD-grown GaAs layers”, Tech. Phys., 63:2 (2018), 211–215 |
1
|
24. |
Н. В. Байдусь, В. Я. Алешкин, А. А. Дубинов, З. Ф. Красильник, К. Е. Кудрявцев, С. М. Некоркин, А. В. Новиков, А. В. Рыков, Д. Г. Реунов, М. В. Шалеев, П. А. Юнин, Д. В. Юрасов, “Применение компенсирующих слоев GaAsP для роста лазерных гетероструктур с квантовыми ямами InGaAs/GaAs, излучающих на длинах волн больше 1100 нм, на искусственных подложках Ge/Si”, Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1443–1446 ; N. V. Baidus, V. Ya. Aleshkin, A. A. Dubinov, Z. F. Krasil'nik, K. E. Kudryavtsev, S. M. Nekorkin, A. V. Novikov, A. V. Rykov, D. G. Reunov, M. V. Shaleev, P. A. Yunin, D. V. Yurasov, “On the application of strain-compensating GaAsP layers for the growth of InGaAs/GaAs quantum-well laser heterostructures emitting at wavelengths above 1100 nm on artificial Ge/Si substrates”, Semiconductors, 52:12 (2018), 1547–1550 |
3
|
25. |
Ю. Н. Дроздов, О. И. Хрыкин, П. А. Юнин, “Проверка гипотезы о термоупругом характере деформации слоя (0001)GaN, выращенного на $a$-срезе сапфира”, Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1380–1383 ; Yu. N. Drozdov, O. I. Khrykin, P. A. Yunin, “Verification of the hypothesis on the thermoelastic nature of deformation of $a$(0001)GaN layer grown on the sapphire $a$-cut”, Semiconductors, 52:11 (2018), 1491–1494 |
26. |
А. И. Охапкин, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, С. А. Краев, Е. В. Скороходов, В. И. Шашкин, “Плазмохимическое травление арсенида галлия в индуктивно-связанной плазме C$_{2}$F$_{5}$Cl”, Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1362–1365 ; A. I. Okhapkin, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, S. A. Kraev, E. V. Skorokhodov, V. I. Shashkin, “Plasma chemical etching of gallium arsenide in C$_{2}$F$_{5}$Cl-based inductively coupled plasma”, Semiconductors, 52:11 (2018), 1473–1476 |
1
|
27. |
П. А. Юнин, П. В. Волков, Ю. Н. Дроздов, А. В. Колядин, С. А. Королев, Д. Б. Радищев, Е. А. Суровегина, В. И. Шашкин, “Исследование структурных и морфологических свойств HPHT алмазных подложек”, Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1321–1325 ; P. A. Yunin, P. V. Volkov, Yu. N. Drozdov, A. V. Koliadin, S. A. Korolev, D. B. Radishev, E. A. Surovegina, V. I. Shashkin, “Study of the structural and morphological properties of HPHT diamond substrates”, Semiconductors, 52:11 (2018), 1432–1436 |
6
|
28. |
П. А. Юнин, Ю. Н. Дроздов, О. И. Хрыкин, В. А. Григорьев, “Исследование анизотропии структурных свойств слоев (0001)GaN, выращенных методом МОГФЭ на $a$-срезе сапфира (11$\bar2$0)”, Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1300–1303 ; P. A. Yunin, Yu. N. Drozdov, O. I. Khrykin, V. A. Grigoryev, “Investigation of the anisotropy of the structural properties of GaN(0001) layers grown by MOVPE on $a$-plane (11$\bar2$0) sapphire”, Semiconductors, 52:11 (2018), 1412–1415 |
1
|
29. |
К. В. Кремлев, А. М. Объедков, Н. М. Семенов, Б. С. Каверин, С. Ю. Кетков, С. А. Гусев, П. А. Юнин, А. И. Елкин, А. В. Аборкин, “Газофазный синтез нового функционального гибридного материала на основе многостенных углеродных нанотрубок, декорированных ограненными нанокристаллами алюминия”, Письма в ЖТФ, 44:19 (2018), 24–31 ; K. V. Kremlev, A. M. Ob'edkov, N. M. Semenov, B. S. Kaverin, S. Yu. Ketkov, S. A. Gusev, P. A. Yunin, A. I. Elkin, A. V. Aborkin, “The gas-phase synthesis of a new functional hybrid material on the basis of multiwalled carbon nanotubes decorated with faceted aluminum nanocrystals”, Tech. Phys. Lett., 44:10 (2018), 865–868 |
8
|
30. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, А. В. Новиков, П. А. Юнин, Д. В. Юрасов, “Новое ограничение разрешения по глубине при послойном элементном анализе методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии: влияние зондирующего ионного пучка”, Письма в ЖТФ, 44:8 (2018), 11–19 ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, A. V. Novikov, P. A. Yunin, D. V. Yurasov, “A new limitation of the depth resolution in tof-sims elemental profiling: the influence of a probing ion beam”, Tech. Phys. Lett., 44:4 (2018), 320–323 |
1
|
31. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, М. А. Лобаев, П. А. Юнин, “Новые кластерные вторичные ионы для количественного анализа концентрации атомов бора в алмазе методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии”, Письма в ЖТФ, 44:7 (2018), 52–60 ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, M. A. Lobaev, P. A. Yunin, “New cluster secondary ions for quantitative analysis of the concentration of boron atoms in diamond by time-of-flight secondary-ion mass spectrometry”, Tech. Phys. Lett., 44:4 (2018), 297–300 |
1
|
|
2017 |
32. |
П. А. Бушуйкин, А. В. Новиков, Б. А. Андреев, Д. Н. Лобанов, П. А. Юнин, Е. В. Скороходов, Л. В. Красильникова, Е. В. Демидов, Г. М. Савченко, В. Ю. Давыдов, “Особенности спектров фотовозбуждения эпитаксиальных слоев InN, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота”, Физика и техника полупроводников, 51:12 (2017), 1594–1598 ; P. A. Bushuikin, A. V. Novikov, B. A. Andreev, D. N. Lobanov, P. A. Yunin, E. V. Skorokhodov, L. V. Krasil’nikova, E. V. Demidov, G. M. Savchenko, V. Yu. Davydov, “Specific features of the photoexcitation spectra of epitaxial InN layers grown by molecular-beam epitaxy with the plasma activation of nitrogen”, Semiconductors, 51:12 (2017), 1537–1541 |
33. |
Н. В. Байдусь, В. Я. Алешкин, А. А. Дубинов, К. Е. Кудрявцев, С. М. Некоркин, А. В. Новиков, Д. А. Павлов, А. В. Рыков, А. А. Сушков, М. В. Шалеев, П. А. Юнин, Д. В. Юрасов, А. Н. Яблонский, З. Ф. Красильник, “Особенности выращивания лазерных структур InGaAs/ GaAs/AlGaAs методом МОС-гидридной эпитаксии на подложках Ge/Si”, Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1579–1582 ; N. V. Baidus, V. Ya. Aleshkin, A. A. Dubinov, K. E. Kudryavtsev, S. M. Nekorkin, A. V. Novikov, D. A. Pavlov, A. V. Rykov, A. A. Sushkov, M. V. Shaleev, P. A. Yunin, D. V. Yurasov, A. N. Yablonskii, Z. F. Krasil'nik, “Peculiarities of growing InGaAs/GaAs/AlGaAs laser structures by MOCVD on Ge/Si substrates”, Semiconductors, 51:11 (2017), 1527–1530 |
5
|
34. |
А. И. Охапкин, С. А. Королев, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, С. А. Краев, О. И. Хрыкин, В. И. Шашкин, “Низкотемпературное осаждение пленок SiN$_{x}$ в индуктивно-связанной плазме SiH$_{4}$/Ar + N$_{2}$ в условиях сильного разбавления силана аргоном”, Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1503–1506 ; A. I. Okhapkin, S. Korolev, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, S. A. Kraev, O. I. Khrykin, V. I. Shashkin, “Low-temperature deposition of SiN$_ x$ films in SiH$_{4}$/Ar + N$_{2}$ inductively coupled plasma under high silane dilution with argon”, Semiconductors, 51:11 (2017), 1449–1452 |
2
|
35. |
М. Н. Дроздов, В. М. Данильцев, Ю. Н. Дроздов, О. И. Хрыкин, П. А. Юнин, “Селективный анализ элементного состава нанокластеров InGaAs/GaAs методом вторично-ионной масс-спектрометрии”, Письма в ЖТФ, 43:10 (2017), 50–59 ; M. N. Drozdov, V. M. Daniltsev, Yu. N. Drozdov, O. I. Khrykin, P. A. Yunin, “Selective analysis of the elemental composition of InGaAs/GaAs nanoclusters by secondary ion mass spectrometry”, Tech. Phys. Lett., 43:5 (2017), 477–480 |
1
|
|
2016 |
36. |
С. Н. Вдовичев, Ю. Н. Ноздрин, Е. Е. Пестов, П. А. Юнин, А. В. Самохвалов, “Фазовые переходы в гибридных SFS структурах с тонкими сверхпроводящими слоями”, Письма в ЖЭТФ, 104:5 (2016), 336–341 ; S. N. Vdovichev, Yu. N. Nozdrin, E. E. Pestov, P. A. Yunin, A. V. Samokhvalov, “Phase transitions in hybrid SFS structures with thin superconducting layers”, JETP Letters, 104:5 (2016), 329–333 |
11
|
37. |
А. В. Новиков, М. В. Шалеев, Д. В. Юрасов, П. А. Юнин, “Влияние шероховатости поверхности на смену режима роста с двумерного на трехмерный в напряженных SiGe-гетероструктурах”, Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1657–1661 ; A. V. Novikov, M. V. Shaleev, D. V. Yurasov, P. A. Yunin, “Influence of surface roughness on a change in the growth mode from two-dimensional to three-dimensional for strained SiGe heterostructures”, Semiconductors, 50:12 (2016), 1630–1634 |
1
|
38. |
П. А. Юнин, Ю. Н. Дроздов, В. В. Чернов, В. А. Исаев, С. А. Богданов, А. Б. Мучников, “Формирование сингулярных (001) террас на поверхности монокристаллических HPHT алмазных подложек”, Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1647–1651 ; P. A. Yunin, Yu. N. Drozdov, V. V. Chernov, V. A. Isaev, S. A. Bogdanov, A. B. Muchnikov, “Formation of singular (001) terraces on the surface of single-crystal HPHT diamond substrates”, Semiconductors, 50:12 (2016), 1622–1625 |
3
|
39. |
Д. Н. Лобанов, А. В. Новиков, П. А. Юнин, Е. В. Скороходов, М. В. Шалеев, М. Н. Дроздов, О. И. Хрыкин, О. А. Бузанов, В. В. Аленков, П. И. Фоломин, А. Б. Гриценко, “Эпитаксиальные слои GaN на подложках лангасита, полученные методом МПЭ с плазменной активацией азота”, Физика и техника полупроводников, 50:11 (2016), 1532–1536 ; D. N. Lobanov, A. V. Novikov, P. A. Yunin, E. V. Skorokhodov, M. V. Shaleev, M. N. Drozdov, O. I. Khrykin, O. A. Buzanov, V. V. Alenkov, P. I. Folomin, A. B. Gritsenko, “Epitaxial GaN layers formed on langasite substrates by the plasma-assisted MBE method”, Semiconductors, 50:11 (2016), 1511–1514 |
2
|
40. |
В. М. Данильцев, Е. В. Демидов, М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, С. А. Краев, Е. А. Суровегина, В. И. Шашкин, П. А. Юнин, “Сильно легированные слои GaAs : Te, полученные в процессе МОГФЭ с использованием диизопропилтеллурида в качестве источника”, Физика и техника полупроводников, 50:11 (2016), 1459–1462 ; V. M. Daniltsev, E. V. Demidov, M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, S. A. Kraev, E. A. Surovegina, V. I. Shashkin, P. A. Yunin, “Heavily doped GaAs:Te layers grown by MOVPE using diisopropyl telluride as a source”, Semiconductors, 50:11 (2016), 1439–1442 |
3
|
41. |
В. Я. Алешкин, А. А. Дубинов, К. Е. Кудрявцев, П. А. Юнин, М. Н. Дроздов, О. В. Вихрова, С. М. Некоркин, Б. Н. Звонков, “Стимулированное излучение из объемного метаморфного слоя GaAsSb на GaAs-подложке”, Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 596–599 ; V. Ya. Aleshkin, A. A. Dubinov, K. E. Kudryavtsev, P. A. Yunin, M. N. Drozdov, O. V. Vikhrova, S. M. Nekorkin, B. N. Zvonkov, “Stimulated emission from a metamorphic GaAsSb bulk layer on a GaAs substrate”, Semiconductors, 50:5 (2016), 586–589 |
42. |
Д. Н. Лобанов, А. В. Новиков, Б. А. Андреев, П. А. Бушуйкин, П. А. Юнин, Е. В. Скороходов, Л. В. Красильникова, “Особенности роста InN методом МПЭ с плазменной активацией азота при различных соотношениях потоков элементов III и V групп”, Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 264–268 ; D. N. Lobanov, A. V. Novikov, B. A. Andreev, P. A. Bushuikin, P. A. Yunin, E. V. Skorokhodov, L. V. Krasil’nikova, “Features of InN growth by nitrogen-plasma-assisted MBE at different ratios of fluxes of group-III and -V elements”, Semiconductors, 50:2 (2016), 261–265 |
6
|
43. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, П. А. Юнин, П. И. Фоломин, А. Б. Гриценко, В. Л. Крюков, Е. В. Крюков, “Экстремально глубокий послойный анализ атомного состава толстых ($>$ 100 $\mu$m) слоев GaAs в составе мощных PIN-диодов методом вторично-ионной масс-спектрометрии”, Письма в ЖТФ, 42:15 (2016), 27–35 ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, P. A. Yunin, P. I. Folomin, A. B. Gritsenko, V. L. Kryukov, E. V. Kryukov, “Extremely deep profiling analysis of the atomic composition of thick ($>$ 100 $\mu$m) GaAs layers within power PIN diodes by secondary ion mass spectrometry”, Tech. Phys. Lett., 42:8 (2016), 783–787 |
44. |
Д. В. Мастеров, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, П. А. Юнин, “Исследование планарных структур, полученных на модифицированных подложках Al$_{2}$O$_{3}$, определяющих топологию сверхпроводящих элементов в процессе осаждения YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-d}$”, Письма в ЖТФ, 42:11 (2016), 82–90 ; D. V. Masterov, S. A. Pavlov, A. E. Parafin, P. A. Yunin, “A study of planar structures formed on the modified Al$_{2}$O$_{3}$ surfaces determining the topology of superconducting elements during YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-d}$ deposition”, Tech. Phys. Lett., 42:6 (2016), 594–597 |
9
|
45. |
К. В. Кремлев, А. М. Объедков, С. Ю. Кетков, Б. С. Каверин, Н. М. Семенов, С. А. Гусев, Д. А. Татарский, П. А. Юнин, “Пиролитическое осаждение наноструктурированных покрытий карбида титана на поверхность многостенных углеродных нанотрубок”, Письма в ЖТФ, 42:10 (2016), 40–46 ; K. V. Kremlev, A. M. Ob'edkov, S. Yu. Ketkov, B. S. Kaverin, N. M. Semenov, S. A. Gusev, D. A. Tatarskii, P. A. Yunin, “Pyrolytic deposition of nanostructured titanium carbide coatings on the surface of multiwalled carbon nanotubes”, Tech. Phys. Lett., 42:5 (2016), 517–519 |
10
|
46. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, А. В. Новиков, П. А. Юнин, Д. В. Юрасов, “Нелинейные калибровочные зависимости в методе вторично-ионной масс-спектрометрии для количественного анализа гетероструктур GeSi с нанокластерами”, Письма в ЖТФ, 42:5 (2016), 40–48 ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, A. V. Novikov, P. A. Yunin, D. V. Yurasov, “Nonlinear calibration curves in secondary ion mass spectrometry for quantitative analysis of gesi heterostructures with nanoclusters”, Tech. Phys. Lett., 42:3 (2016), 243–247 |
2
|
|