|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
1. |
А. А. Лебедев, А. В. Кириллов, Л. П. Романов, А. В. Зубов, А. М. Стрельчук, “Разработка технологии и исследование сверхвысокочастотных переключателей на основе 4$H$-SiC $p$–$i$–$n$-диодов”, ЖТФ, 90:2 (2020), 264–267 ; A. A. Lebedev, A. V. Kirillov, L. P. Romanov, A. V. Zubov, A. M. Strel'chuk, “Development of the processing technique and study of microwave switches based on 4$H$-SiC $p$–$i$–$n$ diodes”, Tech. Phys., 65:2 (2020), 250–253 |
2. |
Е. В. Калинина, А. А. Каташев, Г. Н. Виолина, А. М. Стрельчук, И. П. Никитина, Е. В. Иванова, В. В. Забродский, “Структурные, электрические и оптические свойства 4$H$-SiC для ультрафиолетовых фотоприемников”, Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1368–1373 ; E. V. Kalinina, A. A. Katashev, G. N. Violina, A. M. Strel'chuk, I. P. Nikitina, E. V. Ivanova, V. V. Zabrodskii, “Structural, electrical, and optical properties of 4$H$-SiC for ultraviolet photodetectors”, Semiconductors, 54:12 (2020), 1628–1633 |
1
|
3. |
А. М. Стрельчук, А. А. Лебедев, П. В. Булат, “Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах”, Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1364–1367 ; A. M. Strel'chuk, A. A. Lebedev, P. V. Bulat, “Characteristics of Schottky rectifier diodes based on silicon carbide at elevated temperatures”, Semiconductors, 54:12 (2020), 1624–1627 |
4. |
В. В. Козловский, O. Корольков, К. С. Давыдовская, А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, Н. Слепчук, А. М. Стрельчук, J. Toompuu, “Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 35–37 ; V. V. Kozlovsky, O. Korolkov, K. S. Davydovskaja, A. A. Lebedev, M. E. Levinshteǐn, N. Sleptsuk, A. M. Strel'chuk, J. Toompuu, “Influence of the proton irradiation temperature on the characteristics of high-power high-voltage silicon carbide Schottky diodes”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 287–289 |
8
|
|
2019 |
5. |
А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, В. В. Козловский, А. М. Стрельчук, Е. И. Шабунина, L. Fursin, “Влияние протонного облучения (15 МэВ) на низкочастотный шум мощных SiC MOSFETs”, Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1604–1608 ; A. A. Lebedev, M. E. Levinshteǐn, P. A. Ivanov, V. V. Kozlovsky, A. M. Strel'chuk, E. I. Shabunina, L. Fursin, “Effect of irradiation with 15-MeV protons on low frequency noise in power SiC MOSFETs”, Semiconductors, 53:12 (2019), 1568–1572 |
6
|
|
2018 |
6. |
А. М. Стрельчук, В. В. Козловский, А. А. Лебедев, “Радиационное повреждение карбид-кремниевых диодов заряженными частицами высоких энергий”, Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1651–1655 ; A. M. Strel'chuk, V. V. Kozlovsky, A. A. Lebedev, “Radiation-induced damage of silicon-carbide diodes by high-energy particles”, Semiconductors, 52:13 (2018), 1758–1762 |
5
|
|
2017 |
7. |
В. В. Козловский, А. А. Лебедев, А. М. Стрельчук, К. С. Давыдовская, А. Э. Васильев, Л. Ф. Макаренко, “Влияние энергии бомбардирующих электронов на проводимость эпитаксиальных слоев $n$-4$H$-SiC (CVD)”, Физика и техника полупроводников, 51:3 (2017), 311–316 ; V. V. Kozlovsky, A. A. Lebedev, A. M. Strel'chuk, K. S. Davydovskaja, A. È. Vasil'ev, L. F. Makarenko, “Effect of the energy of bombarding electrons on the conductivity of $n$-4$H$-SiC (CVD) epitaxial layers”, Semiconductors, 51:3 (2017), 299–304 |
3
|
8. |
А. А. Лебедев, К. С. Давыдовская, А. Н. Якименко, А. М. Стрельчук, В. В. Козловский, “Исследование воздействия электронного и протонного облучения на приборные структуры на основе 4$H$-SiC”, Письма в ЖТФ, 43:22 (2017), 63–67 ; A. A. Lebedev, K. S. Davydovskaja, A. N. Yakimenko, A. M. Strel'chuk, V. V. Kozlovsky, “A study of the effect of electron and proton irradiation on 4$H$-SiC device structures”, Tech. Phys. Lett., 43:11 (2017), 1027–1029 |
7
|
|
2016 |
9. |
А. Е. Калядин, Н. А. Соболев, А. М. Стрельчук, П. Н. Аруев, В. В. Забродский, Е. И. Шек, “Влияние условий изготовления светодиодов на основе SiGe на их люминесцентные и электрофизические свойства”, Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 250–253 ; A. E. Kalyadin, N. A. Sobolev, A. M. Strel'chuk, P. N. Aruev, V. V. Zabrodskii, E. I. Shek, “Effect of the fabrication conditions of SiGe LEDs on their luminescence and electrical properties”, Semiconductors, 50:2 (2016), 249–251 |
2
|
|
1991 |
10. |
М. М. Аникин, А. Н. Андреев, А. А. Лебедев, С. Н. Пятко, М. Г. Растегаева, Н. С. Савкина, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, В. Е. Челноков, “Высокотемпературный диод Шоттки Au$-$SiC-$6H$”, Физика и техника полупроводников, 25:2 (1991), 328–333 |
|
1990 |
11. |
М. М. Аникин, Н. И. Кузнецов, А. А. Лебедев, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Связь желтой электролюминесценции в $6H$-SiC с глубокими центрами”, Физика и техника полупроводников, 24:8 (1990), 1384–1390 |
12. |
Б. С. Кондратьев, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, М. Л. Тиранов, “Электрические характеристики и температурный коэффициент напряжения
пробоя микроплазм в низковольтных карбид-кремниевых $p{-}n$-структурах”, Физика и техника полупроводников, 24:4 (1990), 647–652 |
|
1989 |
13. |
М. М. Аникин, В. В. Евстропов, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Разновидность неклассического термоинжекционного тока
в карбид-кремниевых $p{-}n$-структурах”, Физика и техника полупроводников, 23:10 (1989), 1813–1818 |
14. |
М. М. Аникин, В. В. Евстропов, И. В. Попов, В. Н. Растегаев, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Неклассический термоинжекционный ток в карбид-кремниевых
$p{-}n$-структурах”, Физика и техника полупроводников, 23:4 (1989), 647–651 |
|
1988 |
15. |
М. М. Аникин, М. Е. Левинштейн, И. В. Попов, В. П. Растегаев, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Температурная зависимость напряжения лавинного пробоя
в карбид-кремниевых $p{-}n$-переходах”, Физика и техника полупроводников, 22:9 (1988), 1574–1579 |
16. |
М. М. Аникин, А. А. Лебедев, И. В. Попов, В. П. Растегаев, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков, В. Е. Челноков, “Электрические характеристики эпитаксиальных
$p^{+}{-}n{-}n^{+}$-структур на основе карбида кремния политипа $6H$”, Физика и техника полупроводников, 22:2 (1988), 298–300 |
|
1987 |
17. |
В. А. Дмитриев, П. А. Иванов, В. И. Левин, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков, В. Е. Челноков, “Создание $Si\,C$ эпитаксиальных Р-П-структур на подложках, полученных из объемных кристаллов $Si\,C$”, Письма в ЖТФ, 13:19 (1987), 1168–1171 |
|
1986 |
18. |
М. М. Аникин, А. А. Лебедев, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, А. В. Суворов, А. Л. Сыркин, В. Е. Челноков, “Структуры с ионно-имплантированным $p{-}n$-переходом на основе
эпитаксиального $4H$-SiC с $S$-образной вольтамперной характеристикой”, Физика и техника полупроводников, 20:9 (1986), 1654–1657 |
19. |
М. М. Аникин, А. А. Лебедев, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, А. В. Суворов, А. Л. Сыркин, В. Е. Челноков, “Исследование вольтамперных характеристик диодных структур
на основе карбида кремния”, Физика и техника полупроводников, 20:5 (1986), 844–848 |
20. |
В. А. Дмитриев, П. А. Иванов, И. В. Попов, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, В. Е. Челноков, “Ограничение напряжения с помощью карбидкремниевых Р-П-структур”, Письма в ЖТФ, 12:13 (1986), 773–776 |
|
1985 |
21. |
В. А. Дмитриев, П. А. Иванов, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, И. В. Попов, В. Е. Челноков, “Туннельный диод на основе $Si\,C$”, Письма в ЖТФ, 11:16 (1985), 976–978 |
22. |
В. А. Дмитриев, П. А. Иванов, И. В. Коркин, Я. В. Морозенко, И. В. Попов, Т. А. Сидорова, А. М. Стрельчук, В. Е. Челноков, “Карбидкремниевые Р-П-структуры, полученные жидкостной эпитаксией”, Письма в ЖТФ, 11:4 (1985), 238–241 |
|