Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2020, том 46, выпуск 6, страницы 35–37
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.06.49163.18072
(Mi pjtf5158)
 

Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки

В. В. Козловскийa, O. Корольковb, К. С. Давыдовскаяc, А. А. Лебедевc, М. Е. Левинштейнc, Н. Слепчукb, А. М. Стрельчукc, J. Toompuub

a Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
b Tallinn University of Technology, Tallinn, Estonia
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Впервые исследовано влияние облучения при высокой температуре (“горячего облучения”) протонами на вольт-фарадные и вольт-амперные характеристики полупроводниковых приборов на основе карбида кремния. Исследовались коммерческие высоковольтные (блокирующее напряжение 1700 V) интегрированные 4$H$-SiC-диоды Шоттки. Облучение производилось протонами с энергией 15 MeV при температурах 20–400$^\circ$C. Установлено, что наиболее чувствительным к облучению параметром, определяющим радиационную стойкость приборов, является омическое сопротивление базы, монотонно возрастающее с ростом дозы облучения $D$. Показано, что при “горячем” облучении радиационная стойкость диодов существенно превышает стойкость диодов при низкотемпературном (“холодном”) облучении. Сделан вывод, что с ростом температуры облучения уменьшается скорость образования глубоких центров в верхней половине запрещенной зоны карбида кремния.
Ключевые слова: карбид кремния, диод Шоттки, протонное облучение, радиационные дефекты.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 16-12-10106
Estonian Research Council
VFP15051
Estonian Centre of Excellence in ICT Research
IT Academy Program of Information Technology Foundation for Education
Работа выполнена при частичной поддержке Российского научного фонда (проект № 16-12-10106). Исследование поддержано также Estonian Research Council в рамках Institutional Research Project IUT19-11 и Horizon 2020 ERA-chair Grant “Cognitive Electronics COEL” – H2020-WIDESPREAD-2014-2 (agreement number 668995; project TTU code VFP15051) и TAR16013 Center of Excellence “EXCITE IT”, а также IT Academy Program of Information Technology Foundation for Education.
Поступила в редакцию: 14.10.2019
Исправленный вариант: 14.10.2019
Принята в печать: 19.12.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2020, Volume 46, Issue 3, Pages 287–289
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785020030244
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Козловский, O. Корольков, К. С. Давыдовская, А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, Н. Слепчук, А. М. Стрельчук, J. Toompuu, “Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 35–37; Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 287–289
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KozKorDav20}
\by В.~В.~Козловский, O.~Корольков, К.~С.~Давыдовская, А.~А.~Лебедев, М.~Е.~Левинштейн, Н.~Слепчук, А.~М.~Стрельчук, J.~Toompuu
\paper Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2020
\vol 46
\issue 6
\pages 35--37
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5158}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.06.49163.18072}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=42776953}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2020
\vol 46
\issue 3
\pages 287--289
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785020030244}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5158
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i6/p35
  • Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:74
    PDF полного текста:30
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024