|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, Н. М. Лебедева, И. В. Грехов, “Лавинный пробой в 4$H$-SiC диодах Шоттки: вопросы надежности”, ЖТФ, 90:12 (2020), 2133–2138   ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, N. M. Lebedeva, I. V. Grekhov, “Avalanche breakdown in 4$H$-SiC Schottky diodes: reliability aspects”, Tech. Phys., 65:12 (2020), 2041–2046 |
2
|
| 2. |
Н. Д. Ильинская, Н. М. Лебедева, Ю. М. Задиранов, П. А. Иванов, Т. П. Самсонова, О. И. Коньков, А. С. Потапов, “Микропрофилирование 4$H$-SiC сухим травлением в технологии формирования структуры полевого транзистора с затвором Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 54:1 (2020), 97–102 ; N. D. Il'inskaya, N. M. Lebedeva, Yu. M. Zadiranov, P. A. Ivanov, T. P. Samsonova, O. I. Kon'kov, A. S. Potapov, “Micro-profiling of 4$H$-SiC by dry etching to form a Schottky barrier diode”, Semiconductors, 54:1 (2020), 144–149 |
2
|
|
2019 |
| 3. |
П. А. Иванов, М. Ф. Кудояров, А. С. Потапов, Т. П. Самсонова, “Коррекция характеристик обратного восстановления высоковольтных инжекционных 4$H$-SiC диодов с помощью протонного облучения”, Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 862–864 ; P. A. Ivanov, M. F. Kudoyarov, A. S. Potapov, T. P. Samsonova, “Correction of the reverse recovery characteristics of high-voltage 4$H$-SiC junction diodes using proton irradiation”, Semiconductors, 53:6 (2019), 850–852 |
1
|
| 4. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, Т. П. Самсонова, “Моделирование переходных процессов в полупроводниковых приборах на основе 4$H$-SiC (учет неполной ионизации легирующих примесей в модуле ATLAS программного пакета SILVACO TCAD)”, Физика и техника полупроводников, 53:3 (2019), 407–410 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, T. P. Samsonova, “Simulation of transient processes in 4$H$-SiC based semiconductor devices (taking into account the incomplete ionization of dopants in the atlas module of the SILVACO TCAD software package)”, Semiconductors, 53:3 (2019), 385–387 |
|
2018 |
| 5. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, И. В. Грехов, “Влияние частичной ионизации легирующих примесей в 4H-SiC на емкость обратносмещенного $p^{+}$–$i$–$n^{+}$-диода”, ЖТФ, 88:6 (2018), 955–958 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, I. V. Grekhov, “Influence of dopant incomplete ionization on the capacitance of a reverse-biased 4H-SiC $p^{+}$–$i$–$n^{+}$ diode”, Tech. Phys., 63:6 (2018), 928–931 |
2
|
| 6. |
П. А. Иванов, Т. П. Самсонова, А. С. Потапов, “Устойчивость высоковольтных (1430 В) 4$H$-SiC $p^{+}$–$n_{0}$–$n^{+}$-диодов к лавинному пробою”, Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1527–1531 ; P. A. Ivanov, T. P. Samsonova, A. S. Potapov, “Avalanche breakdown stability of high voltage (1430 V) 4$H$-SiC $p^{+}$–$n_{0}$–$n^{+}$ diodes”, Semiconductors, 52:12 (2018), 1630–1634 |
2
|
| 7. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, М. Ф. Кудояров, Т. П. Самсонова, “Влияние низкодозного протонного облучения на характеристики инжекционных диодов на основе 4$H$-SiC”, Физика и техника полупроводников, 52:10 (2018), 1187–1190 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, M. F. Kudoyarov, T. P. Samsonova, “Effect of low-dose proton irradiation on the electrical characteristics of 4$H$-SiC junction diodes”, Semiconductors, 52:10 (2018), 1307–1310 |
3
|
| 8. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, М. Ф. Кудояров, М. А. Козловский, Т. П. Самсонова, “Влияние термообработки на электрические характеристики полуизолирующих слоев, полученных с помощью облучения $n$-SiC высокоэнергетическими ионами аргона”, Письма в ЖТФ, 44:6 (2018), 11–16 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, M. F. Kudoyarov, M. A. Kozlovskii, T. P. Samsonova, “The influence of heat treatment on the electrical characteristics of semi-insulating sic layers obtained by irradiating $n$-SiC with high-energy argon ions”, Tech. Phys. Lett., 44:3 (2018), 229–231 |
5
|
| 9. |
П. А. Иванов, О. И. Коньков, Т. П. Самсонова, А. С. Потапов, “Высоковольтные (1600 V) размыкатели тока с субнаносекундным (150 ps) быстродействием на основе 4$H$-SiC”, Письма в ЖТФ, 44:3 (2018), 3–8 ; P. A. Ivanov, O. I. Kon'kov, T. P. Samsonova, A. S. Potapov, “4$H$-SiC based subnanosecond (150 ps) high-voltage (1600 V) current breakers”, Tech. Phys. Lett., 44:2 (2018), 87–89 |
8
|
|
2017 |
| 10. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, Т. П. Самсонова, И. В. Грехов, “Вольт-амперные характеристики высоковольтных 4$H$-SiC $p^{+}$–$n_{0}$–$n^{+}$-диодов в режиме лавинного пробоя”, Физика и техника полупроводников, 51:3 (2017), 390–394 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, T. P. Samsonova, I. V. Grekhov, “Current–voltage characteristics of high-voltage 4$H$-SiC $p^{+}$–$n_{0}$–$n^{+}$ diodes in the avalanche breakdown mode”, Semiconductors, 51:3 (2017), 374–378 |
6
|
|
2016 |
| 11. |
П. А. Иванов, М. Ф. Кудояров, М. А. Козловский, А. С. Потапов, Т. П. Самсонова, “Полуизолирующие слои 4$H$-SiC, полученные имплантацией высокоэнергетичных (53 МэВ) ионов аргона в эпитаксиальные пленки $n$-типа проводимости”, Физика и техника полупроводников, 50:7 (2016), 937–940 ; P. A. Ivanov, M. F. Kudoyarov, M. A. Kozlovskii, A. S. Potapov, T. P. Samsonova, “Semi-insulating 4$H$-SiC layers formed by the implantation of high-energy (53 MeV) argon ions into $n$-type epitaxial films”, Semiconductors, 50:7 (2016), 920–923 |
6
|
| 12. |
П. А. Иванов, А. С. Потапов, Т. П. Самсонова, И. В. Грехов, “Полевая зависимость дрейфовой скорости электронов в 4$H$-SiC вдоль оси $c$”, Физика и техника полупроводников, 50:7 (2016), 900–904 ; P. A. Ivanov, A. S. Potapov, T. P. Samsonova, I. V. Grekhov, “Field dependence of the electron drift velocity along the hexagonal axis of 4$H$-SiC”, Semiconductors, 50:7 (2016), 883–887 |
4
|
|
Обратная связь: