|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
В. Е. Асадчиков, А. Е. Благов, А. В. Буташин, Ю. О. Волков, А. Н. Дерябин, В. М. Каневский, А. Э. Муслимов, А. И. Проценко, Б. С. Рощин, А. В. Таргонский, Ф. Н. Чуховский, “Латеральные неоднородности сапфировых пластин по данным рентгеновских и зондовых методов”, ЖТФ, 90:3 (2020), 419–426   ; V. E. Asadchikov, A. E. Blagov, A. V. Butashin, Yu. O. Volkov, A. N. Deryabin, V. M. Kanevskii, A. È. Muslimov, A. I. Protsenko, B. S. Roshchin, A. V. Targonsky, F. N. Chukhovskii, “Lateral inhomogeneities of sapphire plates determined with the aid of X-ray and probe methods”, Tech. Phys., 65:3 (2020), 400–406 |
1
|
| 2. |
В. Е. Асадчиков, И. Г. Дьячкова, Д. А. Золотов, Ф. Н. Чуховский, Е. В. Никитина, “Коррекция характеристик кремниевых фотодиодов путем применения ионной имплантации”, Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 557–563 ; V. E. Asadchikov, I. G. D'yachkova, D. A. Zolotov, F. N. Chukhovskii, E. V. Nikitina, “Correcting the characteristics of silicon photodiodes by ion implantation”, Semiconductors, 54:6 (2020), 666–671 |
2
|
|
2019 |
| 3. |
В. Е. Асадчиков, И. Г. Дьячкова, Д. А. Золотов, Ф. Н. Чуховский, Л. М. Сорокин, “Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н$^{+}$-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии”, Физика твердого тела, 61:10 (2019), 1754–1762 ; V. E. Asadchikov, I. G. D'yachkova, D. A. Zolotov, F. N. Chukhovskii, L. M. Sorokin, “Microstructure of Si crystals subjected to irradiation with high-energy H$^+$ ions and heat treatment by high-resolution three-crystal X-ray diffraction and transmission electron microscopy”, Phys. Solid State, 61:10 (2019), 1707–1715 |
1
|
| 4. |
В. Е. Асадчиков, И. Г. Дьячкова, Д. А. Золотов, Ф. Н. Чуховский, Л. М. Сорокин, “Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии”, Физика твердого тела, 61:8 (2019), 1437–1442 ; V. E. Asadchikov, I. G. D'yachkova, D. A. Zolotov, F. N. Chukhovskii, L. M. Sorokin, “On change in the silicon crystal structure implanted with hydrogen ions during annealing based on three-crystal X-ray diffractometry data”, Phys. Solid State, 61:8 (2019), 1383–1388 |
1
|
| 5. |
В. Е. Асадчиков, И. Г. Дьячкова, Д. А. Золотов, Ю. С. Кривоносов, Ф. Н. Чуховский, “Рентгеновская диагностика дефектов микроструктуры кристаллов кремния, облученных ионами водорода”, ЖТФ, 89:5 (2019), 731–736 ; V. E. Asadchikov, I. G. D'yachkova, D. A. Zolotov, Yu. S. Krivonosov, F. N. Chukhovskii, “X-ray diagnostics of microstructure defects of silicon crystals irradiated by hydrogen ions”, Tech. Phys., 64:5 (2019), 680–685 |
1
|
|
1991 |
| 6. |
С. П. Дарбинян, Ф. Н. Чуховский, С. Н. Воронков, “Рентгенодифракционное исследование внутренних напряжений в кристаллах кварца методом наклона”, Физика твердого тела, 33:6 (1991), 1740–1748  |
|
1990 |
| 7. |
А. С. Погосян, О. А. Алешко-Ожевский, Ф. Н. Чуховский, И. И. Калашникова, “Рентгенотопографическая визуализация полей упругих напряжений, создаваемых ультразвуком в кристаллах”, Физика твердого тела, 32:4 (1990), 1224–1226 |
|
1989 |
| 8. |
П. В. Петрашень, Ф. Н. Чуховский, “Восстановление фазы рентгеновской волны, дифрагированной на слоистой монокристаллической структуре”, Докл. АН СССР, 309:1 (1989), 105–109  ; P. V. Petrashen, F. N. Chukhovskii, “Restoration of the phase of an x-ray wave diffracted by a layered
monocrystal structure”, Dokl. Math., 34:11 (1989), 957–959 |
| 9. |
Ю. П. Хапачев, Ф. Н. Чуховский, “Определение пластической деформации в гетероструктурах по данным рентгеновской дифрактометрии”, Физика твердого тела, 31:9 (1989), 76–80 |
| 10. |
В. В. Лидер, Ф. Н. Чуховский, Ю. П. Хапачев, М. Н. Барашев, “Рентгенодифрактометрическое исследование нарушенных приповерхностных слоев Si(111) и In$_{0.5}$Ga$_{0.5}$P/GaAs(111) на основе модели постоянного градиента деформации”, Физика твердого тела, 31:4 (1989), 74–81 |
|
1987 |
| 11. |
Ф. Н. Чуховский, Ю. П. Хапачев, “Определение несоответствия и напряжений в многослойных гетероструктурах
типа $\mathrm{A}^\mathrm{III}\mathrm{B}^\mathrm{V}$”, Докл. АН СССР, 292:2 (1987), 354–356 |
| 12. |
П. В. Петрашень, Ф. Н. Чуховский, И. Л. Шульпина, Р. Н. Кютт, “Новый тип интерференционных полос на брэгговских секционных топограммах”, Физика твердого тела, 29:5 (1987), 1608–1611 |
| 13. |
И. Л. Смольский, Г. А. Дилбарян, Ф. Н. Чуховский, А. И. Рыскин, В. Н. Рожанский, “Экспериментальное исследование и ЭВМ моделирование высокотемпературных изображений дислокаций на рентгеновских секционных топограммах в Si”, Физика твердого тела, 29:5 (1987), 1392–1398 |
|
1986 |
| 14. |
К. Т. Габриелян, Е. Н. Кисловский, И. В. Прокопенко, Ф. Н. Чуховский, “Экспериментальное и теоретическое исследование брэгговского отражения рентгеновских лучей от упругоизогнутрых кристаллов кремния”, Физика твердого тела, 28:10 (1986), 2935–2940 |
|
1985 |
| 15. |
С. Н. Воронков, Ф. Н. Чуховский, Д. И. Пискунов, “Исследование совершенства структуры кристаллов с однородно распределенными дефектами”, Физика твердого тела, 27:6 (1985), 1911–1912 |
|
1984 |
| 16. |
В. Л. Вергасов, Ф. Н. Чуховский, З. Г. Пинскер, “Решение уравнения Шредингера–Бете для многоволновой дифракции быстрых электронов в идеальных кристаллах”, Докл. АН СССР, 275:4 (1984), 865–869 |
| 17. |
С. Н. Воронков, С. К. Максимов, Ф. Н. Чуховский, “Исследование упругонапряженного состояния монокристаллических пластин по данным рентгеновской дифракции методом наклона”, Физика твердого тела, 26:7 (1984), 2019–2024 |
| 18. |
Ю. П. Хапачев, Ф. Н. Чуховский, “Брэгговская дифракция рентгеновских лучей на кристалле с переходным слоем”, Физика твердого тела, 26:5 (1984), 1319–1325 |
|
1983 |
| 19. |
П. В. Петрашень, Э. К. Ковьев, Ф. Н. Чуховский, Ю. Л. Дегтярев, “Малоугловое рассеяние при отражении рентгеновских лучей от поверхности твердого тела”, Физика твердого тела, 25:4 (1983), 1211–1214 |
1
|
|
1979 |
| 20. |
А. М. Арустамян, В. Л. Вергасов, Ф. Н. Чуховский, “Исследование решений одномерного уравнения Шредингера с потенциалом типа Харди. Формализм $S$-матрицы”, ТМФ, 38:3 (1979), 380–387  ; A. M. Arustamyan, V. L. Vergasov, F. N. Chukhovskii, “Solutions of one-dimensional Schrödinger equation with hardy-type potential. The $S$-matrix formalism”, Theoret. and Math. Phys., 38:3 (1979), 251–255 |
6
|
|
1978 |
| 21. |
П. В. Петрашень, Ф. Н. Чуховский, И. Л. Шульпина, “Решение проблемы расчета рентгеновских проекционных топограмм”, Докл. АН СССР, 240:4 (1978), 836–838 |
| 22. |
Ф. Н. Чуховский, К. Т. Габриелян, П. В. Петрашень, “Точное решение задачи динамической брэгговской дифракции рентгеновских лучей в упругоизогнутом толстом кристалле”, Докл. АН СССР, 238:1 (1978), 81–84 |
|
1976 |
| 23. |
Ф. Н. Чуховский, П. В. Петрашень, “Динамическая дифракционная фокусировка рентгеновских лучей упруго изогнутым кристаллом”, Докл. АН СССР, 228:5 (1976), 1087–1090 |
|
1975 |
| 24. |
Ф. Н. Чуховский, П. В. Петрашень, “Дифракция рентгеновских лучей на изогнутом кристалле”, Докл. АН СССР, 222:3 (1975), 599–602 |
|
1972 |
| 25. |
В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуховский, “Проблема изображения в рентгеновской оптике”, УФН, 107:2 (1972), 229–265 ; V. L. Indenbom, F. N. Chukhovskii, “The problem of image formation in X-ray optics”, Phys. Usp., 15:3 (1972), 298–317 |
62
|
|
1971 |
| 26. |
В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуховский, “Рентгеновская оптика”, УФН, 104:2 (1971), 331–332 ; V. L. Indenbom, F. N. Chukhovskii, “X-ray optics”, Phys. Usp., 14:3 (1971), 368–369 |
|
Обратная связь: