Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 1, страницы 98–104
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.01.45326.8657
(Mi phts5948)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физика полупроводниковых приборов

Ширина линии излучения и $\alpha$-фактор одномодовых вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 850 нм на основе квантовых ям InGaAs/AlGaAs

С. А. Блохинa, М. А. Бобровa, А. А. Блохинa, А. Г. Кузьменковab, А. П. Васильевab, Ю. М. Задирановa, Е. А. Европейцевa, А. В. Сахаровa, Н. Н. Леденцовc, Л. Я. Карачинскийad, А. М. Оспенниковe, Н. А. Малеевa, В. М. Устиновabf

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
c VI Systems GmbH, Berlin, Germany,
d ООО "Коннектор Оптикс", г. Санкт-Петербург
e ОАО "Российский институт радионавигации и времени", Санкт-Петербург
f Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Аннотация: Проведены исследования ширины линии излучения одномодовых вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 850 нм на основе квантовых ям InGaAs/AlGaAs. Ширина линии излучения лазера с характерным размером оксидной токовой апертуры 2 мкм достигает своего минимума $\sim$110 МГц при выходной мощности 0.8 мВт. При дальнейшем повышении выходной оптической мощности наблюдается аномальное уширение линии излучения, что, по-видимому, обусловлено ростом $\alpha$-фактора вследствие падения дифференциального усиления активной области в условиях повышенной концентрации носителей и высоких внутренних оптических потерь в микрорезонаторе. Проведена оценка величины $\alpha$-фактора двумя независимыми методами.
Поступила в редакцию: 25.05.2017
Принята в печать: 30.05.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 1, Pages 93–99
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618010062
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. А. Блохин, М. А. Бобров, А. А. Блохин, А. Г. Кузьменков, А. П. Васильев, Ю. М. Задиранов, Е. А. Европейцев, А. В. Сахаров, Н. Н. Леденцов, Л. Я. Карачинский, А. М. Оспенников, Н. А. Малеев, В. М. Устинов, “Ширина линии излучения и $\alpha$-фактор одномодовых вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 850 нм на основе квантовых ям InGaAs/AlGaAs”, Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 98–104; Semiconductors, 52:1 (2018), 93–99
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BloBobBlo18}
\by С.~А.~Блохин, М.~А.~Бобров, А.~А.~Блохин, А.~Г.~Кузьменков, А.~П.~Васильев, Ю.~М.~Задиранов, Е.~А.~Европейцев, А.~В.~Сахаров, Н.~Н.~Леденцов, Л.~Я.~Карачинский, А.~М.~Оспенников, Н.~А.~Малеев, В.~М.~Устинов
\paper Ширина линии излучения и $\alpha$-фактор одномодовых вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 850 нм на основе квантовых ям InGaAs/AlGaAs
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 1
\pages 98--104
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5948}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.01.45326.8657}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=34982793}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 1
\pages 93--99
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618010062}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5948
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i1/p98
    Синоним
    Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:50
    PDF полного текста:16
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024