Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Смирнов Владимир Александрович

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 6
Научных статей: 6

Статистика просмотров:
Эта страница:39
Страницы публикаций:278
Полные тексты:104

https://www.mathnet.ru/rus/person184012
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2021
1. О. А. Агеев, О. И. Ильин, М. В. Рубашкина, В. А. Смирнов, А. А. Федотов, О. Г. Цуканова, “Определение удельного сопротивления вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методами сканирующей зондовой микроскопии”, ЖТФ, 91:8 (2021),  1299  mathnet; O. A. Ageev, O. I. Il'in, M. V. Rubashkina, V. A. Smirnov, A. A. Fedotov, O. G. Tsukanova, “Erratum to: Determination of the Electrical Resistivity of Vertically Aligned Carbon Nanotubes by Scanning Probe Microscopy”, Tech. Phys., 66:10 (2021), 1168  scopus
2019
2. В. А. Смирнов, Р. В. Томинов, В. И. Авилов, Н. И. Алябьева, З. Е. Вакулов, Е. Г. Замбург, Д. А. Хахулин, О. А. Агеев, “Исследование мемристорного эффекта в нанокристаллических пленках ZnO”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019),  77–82  mathnet  elib; V. A. Smirnov, R. V. Tominov, V. I. Avilov, N. I. Alyab'eva, Z. E. Vakulov, E. G. Zamburg, D. A. Khakhulin, O. A. Ageev, “Investigation into the memristor effect in nanocrystalline ZnO films”, Semiconductors, 53:1 (2019), 72–77 14
2018
3. М. В. Ильина, О. И. Ильин, Ю. Ф. Блинов, В. А. Смирнов, О. А. Агеев, “Неравномерная упругая деформация и мемристорный эффект в ориентированных углеродных нанотрубках”, ЖТФ, 88:11 (2018),  1726–1733  mathnet  elib; M. V. Il'ina, O. I. Il'in, Yu. F. Blinov, V. A. Smirnov, O. A. Ageev, “Nonuniform elastic strain and memristive effect in aligned carbon nanotubes”, Tech. Phys., 63:11 (2018), 1672–1677 9
4. В. А. Смирнов, Р. В. Томинов, Н. И. Алябьева, М. В. Ильина, В. В. Полякова, Ал. В. Быков, О. А. Агеев, “Методика определения удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии”, ЖТФ, 88:8 (2018),  1273–1278  mathnet  elib; V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. I. Alyab'eva, M. V. Il'ina, V. V. Polyakova, Al. V. Bykov, O. A. Ageev, “Atomic force microscopy measurement of the resistivity of semiconductors”, Tech. Phys., 63:8 (2018), 1236–1241 11
2016
5. О. А. Агеев, Ю. Ф. Блинов, М. В. Ильина, О. И. Ильин, В. А. Смирнов, О. Г. Цуканова, “Исследование адгезии вертикально ориентированных углеродных нанотрубок к подложке методом атомно-силовой микроскопии”, Физика твердого тела, 58:2 (2016),  301–306  mathnet  elib; O. A. Ageev, Yu. F. Blinov, M. V. Il'ina, O. I. Il'in, V. A. Smirnov, O. G. Tsukanova, “Study of adhesion of vertically aligned carbon nanotubes to a substrate by atomic-force microscopy”, Phys. Solid State, 58:2 (2016), 309–314 24
6. В. И. Авилов, О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник, О. Г. Цуканова, “Исследование фазового состава наноразмерных структур, полученных локальным анодным окислением пленок титана”, Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016),  612–618  mathnet  elib; V. I. Avilov, O. A. Ageev, B. G. Konoplev, V. A. Smirnov, M. S. Solodovnik, O. G. Tsukanova, “Study of the phase composition of nanostructures produced by the local anodic oxidation of titanium films”, Semiconductors, 50:5 (2016), 601–606 14

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024