|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
1. |
Р. В. Селюков, М. О. Изюмов, В. В. Наумов, Л. А. Мазалецкий, “Формирование текстуры (100) в тонких пленках Ti под действием низкоэнергетической ионной бомбардировки”, Письма в ЖТФ, 47:23 (2021), 35–39 |
1
|
|
2020 |
2. |
Р. В. Селюков, В. В. Наумов, “Влияние толщины пленки Pt на изменение текстуры и доли кристаллической фазы при ее отжиге”, ЖТФ, 90:5 (2020), 795–804 ; R. V. Selyukov, V. V. Naumov, “The influence of film thickness on the annealing-induced changes of texture and of the fraction of crystalline phase in Pt films”, Tech. Phys., 65:5 (2020), 762–770 |
3. |
Э. Ю. Бучин, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. С. Рудый, “Влияние диффузионных барьеров на емкостные свойства композитных анодов состава Si–CuSi–Cu”, Письма в ЖТФ, 46:19 (2020), 3–6 ; È. Yu. Buchin, A. A. Mironenko, V. V. Naumov, A. S. Rudyi, “The influence of diffusion barriers on the capacitance properties of composite anodes with Si–CuSi–Cu composition”, Tech. Phys. Lett., 46:10 (2020), 943–946 |
4. |
А. С. Рудый, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. М. Скундин, Т. Л. Кулова, И. С. Федоров, С. В. Васильев, “Твердотельный литий-ионный аккумулятор: структура, технология и характеристики”, Письма в ЖТФ, 46:5 (2020), 15–18 ; A. S. Rudyi, A. A. Mironenko, V. V. Naumov, A. M. Skundin, T. L. Kulova, I. S. Fedorov, S. V. Vasilev, “A solid-state lithium-ion battery: structure, technology, and characteristics”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 215–219 |
4
|
|
2019 |
5. |
Э. Ю. Бучин, В. В. Наумов, С. В. Васильев, “Формирование нанопористых пленок силицидов меди”, Физика и техника полупроводников, 53:3 (2019), 418–422 ; È. Yu. Buchin, V. V. Naumov, S. V. Vasilev, “Formation of nanoporous copper-silicide films”, Semiconductors, 53:3 (2019), 395–399 |
7
|
6. |
Э. Ю. Бучин, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. С. Рудый, И. С. Федоров, “Структурные изменения в пленках Si–CuSi при интеркаляции ионов лития”, Письма в ЖТФ, 45:19 (2019), 17–20 ; È. Yu. Buchin, A. A. Mironenko, V. V. Naumov, A. S. Rudyi, I. S. Fedorov, “Structural changes in Si–CuSi films upon intercalation of lithium ions”, Tech. Phys. Lett., 45:10 (2019), 973–976 |
1
|
|
2018 |
7. |
Р. В. Селюков, В. В. Наумов, С. В. Васильев, “Влияние толщины пленки Pt на процессы роста зерен при ее отжиге”, ЖТФ, 88:6 (2018), 926–933 ; R. V. Selyukov, V. V. Naumov, S. V. Vasilev, “The influence of film thickness on annealing-induced grain growth in Pt films”, Tech. Phys., 63:6 (2018), 900–907 |
6
|
8. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, В. В. Наумов, К. Е. Гусева, “Формирование полых свинцовых структур на поверхности пленок PbSe при обработке в аргоновой плазме”, Письма в ЖТФ, 44:12 (2018), 32–38 ; S. P. Zimin, I. I. Amirov, V. V. Naumov, K. E. Guseva, “The formation of hollow lead structures on the surface of PbSe films treated in argon plasma”, Tech. Phys. Lett., 44:6 (2018), 518–521 |
11
|
|
2017 |
9. |
Э. Ю. Бучин, В. В. Наумов, С. В. Васильев, “Влияние постоянного магнитного поля на формирование силицидных фаз в структуре Cu/Si(100) при изотермическом отжиге”, Физика и техника полупроводников, 51:6 (2017), 844–849 ; È. Yu. Buchin, V. V. Naumov, S. V. Vasilev, “Influence of a static magnetic field on the formation of silicide phases in a Cu/Si(100) structure upon isothermal annealing”, Semiconductors, 51:6 (2017), 812–816 |
4
|
10. |
А. С. Рудый, С. В. Васильев, М. Е. Лебедев, А. В. Метлицкая, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. В. Новожилова, И. С. Федоров, А. Б. Чурилов, “Экспериментальное исследование тонких пленок твердого электролита фосфор-оксинитрида лития”, Письма в ЖТФ, 43:11 (2017), 3–11 ; A. S. Rudyi, S. V. Vasilev, M. E. Lebedev, A. V. Metlitskaya, A. A. Mironenko, V. V. Naumov, A. V. Novozhilova, I. S. Fedorov, A. B. Churilov, “An experimental examination of thin films of lithium phosphorus oxynitride (a solid electrolyte)”, Tech. Phys. Lett., 43:6 (2017), 503–506 |
2
|
|
2016 |
11. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, В. В. Наумов, “Изменение проводимости тонких пленок селенида свинца после плазменного травления”, Физика и техника полупроводников, 50:8 (2016), 1146–1150 ; S. P. Zimin, I. I. Amirov, V. V. Naumov, “Changes in the conductivity of lead-selenide thin films after plasma etching”, Semiconductors, 50:8 (2016), 1125–1129 |
4
|
|