|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
А. В. Мезин, А. Е. Ефимов, Д. О. Соловьева, И. С. Васкан, В. А. Олейников, К. Е. Мочалов, “Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии”, Письма в ЖТФ, 47:6 (2021), 23–25   ; A. V. Mezin, A. E. Efimov, D. O. Solovyeva, I. S. Vaskan, V. A. Oleǐnikov, K. E. Mochalov, “Developing low-profile deflectometer for combined scanning probe and optical microscopy systems”, Tech. Phys. Lett., 47:4 (2021), 287–289 |
1
|
| 2. |
М. А. Трусов, А. Е. Ефимов, Д. О. Соловьева, И. С. Васкан, В. А. Олейников, К. Е. Мочалов, “Моделирование оптимальной оптической системы ввода/вывода излучения для реализации эффективного зондового усиления электромагнитного поля для случая непрозрачных образцов”, Письма в ЖТФ, 47:5 (2021), 42–44 ; M. A. Trusov, A. E. Efimov, D. O. Solovyeva, I. S. Vaskan, V. A. Oleǐnikov, K. E. Mochalov, “Simulation of an optimal radiation injection/extraction optical system for effective tip enhancement of the electromagnetic field in opaque samples”, Tech. Phys. Lett., 47:3 (2021), 252–254 |
|
2020 |
| 3. |
К. Е. Мочалов, Д. О. Соловьева, А. Е. Ефимов, Д. В. Клинов, В. А. Олейников, “Высокоэффективные воспроизводимые зонды для спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (TERS)”, Письма в ЖТФ, 46:21 (2020), 36–39 ; K. E. Mochalov, D. O. Solovyeva, A. E. Efimov, D. V. Klinov, V. A. Oleǐnikov, “High-performance, reproducible tip-enhanced Raman scattering probes”, Tech. Phys. Lett., 46:11 (2020), 1084–1087 |
3
|
| 4. |
К. Е. Мочалов, О. И. Агапова, А. Н. Генералова, И. С. Васкан, Д. О. Соловьева, В. А. Олейников, И. И. Агапов, А. Е. Ефимов, “Наноразмерный корреляционный анализ морфологической, оптической и магнитной структуры полимерных микросфер для мультиплексной диагностики”, Письма в ЖТФ, 46:5 (2020), 23–26 ; K. E. Mochalov, O. I. Agapova, A. N. Generalova, I. S. Vaskan, D. O. Solovyeva, V. A. Oleǐnikov, I. I. Agapov, A. E. Efimov, “Nanoscale correlation analysis of the morphological, optical, and magnetic structure of polymer microspheres for multiplex diagnostics”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 224–227 |
1
|
|
2018 |
| 5. |
А. М. Алексеев, A. Ал-Афееф, Г. Д. Хедли, С. С. Харинцев, А. Е. Ефимов, А. Т. Едрисов, Н. А. Дюжев, И. Д. Самуэль, “Исследование структуры объемного гетероперехода в полимерных солнечных элементах с помощью комбинации ультрамикротомирования и атомно-силовой микроскопии”, Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 110–117 ; A. M. Alekseev, A. Al-Afeef, G. J. Hedley, S. S. Kharintsev, A. E. Efimov, A. T. Edrisov, N. A. Djuzhev, I. D. Samuel, “Combined ultramicrotomy and atomic force microscopy study of the structure of a bulk heterojunction in polymer solar cells”, Semiconductors, 52:1 (2018), 105–111 |
1
|
|
2016 |
| 6. |
A. E. Efimov, A. Yu. Bobrovsky, I. I. Agapov, O. I. Agapova, V. A. Oleinikov, I. R. Nabiev, K. E. Mochalov, “Erratum to: “Scanning Near-Field Optical Nanotomography: a New Method of Multiparametric 3D Investigation of Nanostructural Materials””, Письма в ЖТФ, 42:10 (2016), 111 ; Tech. Phys. Lett., 42:5 (2016), 553 |
| 7. |
А. Е. Ефимов, А. Ю. Бобровский, И. И. Агапов, О. И. Агапова, В. А. Олейников, И. Р. Набиев, К. Е. Мочалов, “Сканирующая ближнепольная оптическая нанотомография: метод многопараметрического 3D-исследования наноструктурированных материалов”, Письма в ЖТФ, 42:4 (2016), 9–15 ; A. E. Efimov, A. Yu. Bobrovsky, I. I. Agapov, O. I. Agapova, V. A. Oleǐnikov, I. R. Nabiev, K. E. Mochalov, “Scanning near-field optical nanotomography: a new method of multiparametric 3D investigation of nanostructural materials”, Tech. Phys. Lett., 42:2 (2016), 171–174 |
1
|
|
Обратная связь: