Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2020, том 46, выпуск 21, страницы 36–39
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.21.50195.18374 (Mi pjtf4952) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Высокоэффективные воспроизводимые зонды для спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (TERS)

К. Е. Мочаловa, Д. О. Соловьеваab, А. Е. Ефимовcd, Д. В. Клиновe, В. А. Олейниковab

a Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
b Московский инженерно-физический институт (Национальный исследовательский ядерный университет)
c ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. В. И. Шумакова Минздравсоцразвития РФ
d ООО "СНОТРА", Москва, Россия
e Федеральный Научно-Клинический Центр Физико-Химической Медицины Федерального Медико-Биологического Агентства, Москва, Россия
PDF полного текста (463 kB) Список цитирования (3)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.21.50195.18374
Аннотация: Основное ограничение применения микроспектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (tip-enhanced Raman scattering, TERS) связано с отсутствием надежных сканирующих зондов. Представлена простая методика формирования TERS-зондов с высоковоспроизводимыми характеристиками, надежными и дающими достаточное усиление. Методика основана на модификации стандартных кантилеверов сканирующих зондовых микроскопов плазменным травлением с последующим формированием TERS-усиливающей области на вершине путем осаждения коллоидных наночастиц методом диэлектрофореза.
Ключевые слова: микроспектроскопия комбинационного рассеяния с усилением на острие, TERS, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), зонды СЗМ.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-14-00171
Работа выполнена при поддержке Российского научного фонда (проект № 19-14-00171).
Поступила в редакцию: 12.05.2020
Исправленный вариант: 28.07.2020
Принята в печать: 28.07.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2020, Volume 46, Issue 11, Pages 1084–1087
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785020110103
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: К. Е. Мочалов, Д. О. Соловьева, А. Е. Ефимов, Д. В. Клинов, В. А. Олейников, “Высокоэффективные воспроизводимые зонды для спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (TERS)”, Письма в ЖТФ, 46:21 (2020), 36–39; Tech. Phys. Lett., 46:11 (2020), 1084–1087
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MocSolEfi20}
\by К.~Е.~Мочалов, Д.~О.~Соловьева, А.~Е.~Ефимов, Д.~В.~Клинов, В.~А.~Олейников
\paper Высокоэффективные воспроизводимые зонды для спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (TERS)
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2020
\vol 46
\issue 21
\pages 36--39
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf4952}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.21.50195.18374}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44367771}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2020
\vol 46
\issue 11
\pages 1084--1087
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785020110103}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4952
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i21/p36
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:53
    PDF полного текста:31
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024