Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2021, том 47, выпуск 6, страницы 23–25
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.06.50753.18577 (Mi pjtf4826) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии

А. В. Мезинa, А. Е. Ефимовb, Д. О. Соловьеваa, И. С. Васканac, В. А. Олейниковa, К. Е. Мочаловa

a Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
b Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов им. акад. В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
c Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
PDF полного текста (1183 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.06.50753.18577
Аннотация: Разработана, изготовлена и испытана система низкопрофильного СЗМ-дефлектометра (СЗМ — сканирующая зондовая микроскопия), позволяющая повысить апертуру подводимых объективов до рекордной на данный момент величины $NA$ = 0.75. Внедрение такой системы позволит существенно улучшить показатели оптических методик комбинированных систем СЗМ/оптическая микроспектроскопия.
Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, оптическая микроспектроскопия, корреляционная микроскопия, СЗМ-дефлектометр.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 18-19-00718
Работа выполнена при поддержке Российского научного фонда (проект № 18-19-00718).
Поступила в редакцию: 09.10.2020
Исправленный вариант: 03.12.2020
Принята в печать: 03.12.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2021, Volume 47, Issue 4, Pages 287–289
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785021030238
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Мезин, А. Е. Ефимов, Д. О. Соловьева, И. С. Васкан, В. А. Олейников, К. Е. Мочалов, “Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии”, Письма в ЖТФ, 47:6 (2021), 23–25; Tech. Phys. Lett., 47:4 (2021), 287–289
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MezEfiSol21}
\by А.~В.~Мезин, А.~Е.~Ефимов, Д.~О.~Соловьева, И.~С.~Васкан, В.~А.~Олейников, К.~Е.~Мочалов
\paper Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2021
\vol 47
\issue 6
\pages 23--25
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf4826}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.06.50753.18577}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46301746}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2021
\vol 47
\issue 4
\pages 287--289
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785021030238}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4826
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v47/i6/p23
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:61
    PDF полного текста:16
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024