Сканирующая ближнепольная оптическая нанотомография: метод многопараметрического 3D-исследования наноструктурированных материалов

Разработан экспериментальный подход к многопараметрической наномасштабной 3D-характеризации широкого класса композитных наноматериалов. Метод позволяет одновременно исследовать оптические свойства, 3D-морфологию, а также распределение механических и электрических свойств одного и того же объемного участка образца. Комбинированный подход сочетает в себе методы конфокальной и ближнепольной оптической микроспектроскопии с латеральным разрешением до 50 nm (флуоресценция, комбинационное рассеяние) с методом сканирующей зондовой микроскопии. Возможность получения объемного распределения оптических, морфологических, электрических и механических свойств образца с наномасштабным разрешением реализуется благодаря последовательному исследованию слоев наноматериалов с шагом до 20 nm и общей глубиной Z-сканирования до 3 mm. Разработанная методика применена для исследования ЖК-полимера, допированного флуоресцентными нанокристаллами.