Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Руденко Константин Васильевич

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 4
Научных статей: 4

Статистика просмотров:
Эта страница:55
Страницы публикаций:193
Полные тексты:59
ведущий научный сотрудник
доктор физико-математических наук (2007)
Специальность ВАК: 05.27.01 (твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах)
E-mail:
Сайт: https://ftian.ru/rudenko-konstantin-vasilevich/

Научная биография:

Руденко, Константин Васильевич. Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники : дис. ... докт. физ.-матем. наук : 05.27.01; [Место защиты: Физ.-технол. ин-т РАН]. - Москва, 2007. - 298 с. : ил.


https://www.mathnet.ru/rus/person105934
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt
ИСТИНА https://istina.msu.ru/workers/22477346
https://www.scopus.com/authid/detail.url?authorId=6603679966
https://www.researchgate.net/profile/Konstantin-Rudenko

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2018
1. А. В. Фадеев, К. В. Руденко, “Атомно-слоевое осаждение тонких пленок на 3$D$-наноструктуры: влияние наклона стенок и аспектного отношения тренчей”, ЖТФ, 88:10 (2018),  1573–1580  mathnet  elib; A. V. Fadeev, K. V. Rudenko, “Atomic layer deposition of thin films onto 3$D$ nanostructures: the effect of wall tilt angle and aspect ratio of trenches”, Tech. Phys., 63:10 (2018), 1525–1532 2
2. А. В. Фадеев, К. В. Руденко, “Аналитическая модель атомно-слоевого осаждения тонких пленок на стенки цилиндрических отверстий с высоким аспектным отношением”, ЖТФ, 88:8 (2018),  1264–1272  mathnet  elib; A. V. Fadeev, K. V. Rudenko, “Analytical model for atomic-layer deposition of thin films on the walls of cylindrical holes with a relatively high aspect ratio”, Tech. Phys., 63:8 (2018), 1228–1235 3
3. А. В. Фадеев, А. В. Мяконьких, К. В. Руденко, “Аналитическая модель атомно-слоевого осаждения пленок на 3D-структурах с высоким аспектным отношением”, ЖТФ, 88:2 (2018),  243–250  mathnet  elib; A. V. Fadeev, A. V. Myakon'kikh, K. V. Rudenko, “Analytical model of atomic layer deposition of films on 3D structures with high aspect ratios”, Tech. Phys., 63:2 (2018), 235–242 6
2016
4. В. П. Попов, М. А. Ильницкий, Э. Д. Жанаев, А. В. Мяконьких, К. В. Руденко, А. В. Глухов, “Биосенсорные свойства нанопроволочных транзисторов с защитным слоем диэлектрика Al$_{2}$O$_{3}$, нанесенным методом плазменно-стимулированного атомно-слоевого осаждения”, Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016),  643–649  mathnet  elib; V. P. Popov, M. A. Ilnitskii, E. D. Zhanaev, A. V. Myakon'kikh, K. V. Rudenko, A. V. Glukhov, “Biosensor properties of SOI nanowire transistors with a PEALD Al$_{2}$O$_{3}$ dielectric protective layer”, Semiconductors, 50:5 (2016), 632–638 15

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024