|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2024 |
| 1. |
В. В. Лидер, “Рентгеновская рефракционная интроскопия”, УФН, 194:4 (2024), 345–359  ; V. V. Lider, “X-ray refraction introscopy”, Phys. Usp., 67:4 (2024), 325–337   |
|
2023 |
| 2. |
В. В. Лидер, “Рентгеновские интерферометры Тальбота и Тальбота – Лау”, УФН, 193:10 (2023), 1047–1070 ; V. V. Lider, “Talbot and Talbot–Lau X-ray interferometers”, Phys. Usp., 66:10 (2023), 987–1007 |
|
2021 |
| 3. |
В. В. Лидер, “Методы рентгеновской дифракционной топографии (Обзор)”, Физика твердого тела, 63:2 (2021), 165–190  ; V. V. Lider, “X-ray diffraction topography methods (review)”, Phys. Solid State, 63:2 (2021), 189–214 |
15
|
| 4. |
В. В. Лидер, “Фокусирующая капиллярная и пористая рентгеновская оптика”, Оптика и спектроскопия, 129:11 (2021), 1444–1460 ; V. V. Lider, “Focusing capillar and porous X-ray optics”, Optics and Spectroscopy, 130:14 (2022), 2156–2170 |
|
2020 |
| 5. |
В. В. Лидер, “Прецизионное определение параметров кристаллической решётки”, УФН, 190:9 (2020), 971–994 ; V. V. Lider, “Precise determination of crystal lattice parameters”, Phys. Usp., 63:9 (2020), 907–928 |
7
|
|
2019 |
| 6. |
В. В. Лидер, “Многослойные рентгеновские интерференционные структуры”, УФН, 189:11 (2019), 1137–1171 ; V. V. Lider, “Multilayer X-ray interference structures”, Phys. Usp., 62:11 (2019), 1063–1095 |
6
|
|
2018 |
| 7. |
В. В. Лидер, “Рентгеновская флуоресцентная визуализация”, УФН, 188:10 (2018), 1081–1102 ; V. V. Lider, “X-ray fluorescence imaging”, Phys. Usp., 61:10 (2018), 980–999 |
16
|
|
2017 |
| 8. |
В. В. Лидер, “Рентгеновская микроскопия”, УФН, 187:2 (2017), 201–219 ; V. V. Lider, “X-ray microscopy”, Phys. Usp., 60:2 (2017), 187–203 |
13
|
|
2015 |
| 9. |
В. В. Лидер, “Рентгеновская голография”, УФН, 185:4 (2015), 393–413 ; V. V. Lider, “X-ray holography”, Phys. Usp., 58:4 (2015), 365–383 |
9
|
|
2014 |
| 10. |
В. В. Лидер, “Рентгеновские кристаллические интерферометры”, УФН, 184:11 (2014), 1217–1236 ; V. V. Lider, “X-ray crystal interferometers”, Phys. Usp., 57:11 (2014), 1099–1117 |
15
|
|
1989 |
| 11. |
В. В. Лидер, Ф. Н. Чуховский, Ю. П. Хапачев, М. Н. Барашев, “Рентгенодифрактометрическое исследование нарушенных приповерхностных слоев Si(111) и In$_{0.5}$Ga$_{0.5}$P/GaAs(111) на основе модели постоянного градиента деформации”, Физика твердого тела, 31:4 (1989), 74–81 |
|
1972 |
| 12. |
А. Н. Корнев, Б. А. Максимов, В. В. Лидер, В. В. Илюхин, Н. В. Белов, “Кристаллическая структура $\mathrm{Na}_2\mathrm{Cu}[\mathrm{Si}_4\mathrm{O}_{10}]$”, Докл. АН СССР, 205:4 (1972), 831–833 |
|
Обратная связь: