|
Эта публикация цитируется в 15 научных статьях (всего в 15 статьях)
Обзоры
Методы рентгеновской дифракционной топографии (Обзор)
В. В. Лидер Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Аннотация:
Описаны различные рентгенотопографические методы визуализации дефектов кристаллической решетки, рассмотрены вопросы формирования дифракционного контраста, а также приведены примеры использования рентгеновской топографии для изучения различных структурных дефектов кристаллической решетки.
Ключевые слова:
рентгеновские лучи, дифракция, топография, дифракционный контраст.
Поступила в редакцию: 08.10.2020 Исправленный вариант: 08.10.2020 Принята в печать: 20.10.2020
Образец цитирования:
В. В. Лидер, “Методы рентгеновской дифракционной топографии (Обзор)”, Физика твердого тела, 63:2 (2021), 165–190; Phys. Solid State, 63:2 (2021), 189–214
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt8173 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v63/i2/p165
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 81 | PDF полного текста: | 30 |
|