Прецизионное определение параметров кристаллической решётки

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.