Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Труханов Евгений Михайлович

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 5
Научных статей: 5

Статистика просмотров:
Эта страница:82
Страницы публикаций:421
Полные тексты:111
Списки литературы:36
ведущий научный сотрудник
доктор физико-математических наук

https://www.mathnet.ru/rus/person61447
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2019
1. Е. М. Труханов, C. А. Тийс, “Необычный механизм релаксации напряжений несоответствия в тонких нанопленках”, Письма в ЖТФ, 45:22 (2019),  28–31  mathnet  elib; E. M. Trukhanov, S. A. Teys, “An unusual mechanism of misfit stress relaxation in thin nanofilms”, Tech. Phys. Lett., 45:11 (2019), 1144–1147 2
2018
2. А. С. Дерябин, Л. В. Соколов, Е. М. Труханов, К. Б. Фрицлер, “Достоверность выявления пронизывающих дислокаций в эпитаксиальных пленках с помощью структурно-чувствительного травления”, Письма в ЖТФ, 44:20 (2018),  30–36  mathnet  elib; A. S. Deryabin, L. V. Sokolov, E. M. Trukhanov, K. B. Fritzler, “The reliability of revealing threading dislocations in epitaxial films by structure-sensitive etching”, Tech. Phys. Lett., 44:10 (2018), 916–918 1
3. И. Д. Лошкарев, А. П. Василенко, Е. М. Труханов, А. В. Колесников, М. О. Петрушков, М. А. Путято, “Рентгеноструктурный анализ эпитаксиальных слоев со свойствами дислокационного фильтра”, Письма в ЖТФ, 44:13 (2018),  19–27  mathnet  elib; I. D. Loshkarev, A. P. Vasilenko, E. M. Trukhanov, A. V. Kolesnikov, M. O. Petrushkov, M. A. Putyato, “X-ray diffraction analysis of epitaxial layers with the properties of a dislocation filter”, Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 562–565
2017
4. И. Д. Лошкарев, А. П. Василенко, Е. М. Труханов, А. В. Колесников, М. А. Путято, М. Ю. Есин, М. О. Петрушков, “Структурное состояние эпитаксиальных пленок GaP разных полярностей на отклоненных подложках Si(001)”, Письма в ЖТФ, 43:4 (2017),  64–71  mathnet  elib; I. D. Loshkarev, A. P. Vasilenko, E. M. Trukhanov, A. V. Kolesnikov, M. A. Putyato, M. Yu. Yesin, M. O. Petrushkov, “The structural state of epitaxial GaP films of different polarities grown on misoriented Si(001) substrates”, Tech. Phys. Lett., 43:2 (2017), 213–215 3
2010
5. C. А. Тийс, Е. М. Труханов, А. С. Ильин, А. К. Гутаковский, А. В. Колесников, “Начальные стадии эпитаксии Ge на Si(111) в квазиравновесных условиях роста”, Письма в ЖЭТФ, 92:6 (2010),  429–437  mathnet; S. A. Teys, E. M. Trukhanov, A. S. Il'in, A. K. Gutakovskii, A. V. Kolesnikov, “Initial stages of Ge epitaxy on Si(111) under quasi-equilibrium growth conditions”, JETP Letters, 92:6 (2010), 388–395  isi  scopus 13

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024