|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2018 |
| 1. |
А. С. Бабушкин, И. В. Уваров, И. И. Амиров, “Влияние низкоэнергетической ионно-плазменной обработки на остаточные напряжения в тонких пленках хрома”, ЖТФ, 88:12 (2018), 1845–1852   ; A. S. Babushkin, I. V. Uvarov, I. I. Amirov, “Effect of low-energy ion-plasma treatment on residual stresses in thin chromium films”, Tech. Phys., 63:12 (2018), 1800–1807 |
9
|
| 2. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, В. В. Наумов, К. Е. Гусева, “Формирование полых свинцовых структур на поверхности пленок PbSe при обработке в аргоновой плазме”, Письма в ЖТФ, 44:12 (2018), 32–38 ; S. P. Zimin, I. I. Amirov, V. V. Naumov, K. E. Guseva, “The formation of hollow lead structures on the surface of PbSe films treated in argon plasma”, Tech. Phys. Lett., 44:6 (2018), 518–521 |
11
|
|
2016 |
| 3. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, В. В. Наумов, “Изменение проводимости тонких пленок селенида свинца после плазменного травления”, Физика и техника полупроводников, 50:8 (2016), 1146–1150 ; S. P. Zimin, I. I. Amirov, V. V. Naumov, “Changes in the conductivity of lead-selenide thin films after plasma etching”, Semiconductors, 50:8 (2016), 1125–1129 |
4
|
|
Обратная связь: