|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2023 |
| 1. |
В. А. Воронковский, А. К. Герасимова, В. Ш. Алиев, “Эффект резистивного переключения в мемристорах TaN/HfO$_x$/Ni с филаментом, сформированным под действием локальной электронно-лучевой кристаллизации”, Письма в ЖЭТФ, 117:7 (2023), 550–555  ; V. A. Voronkovskii, A. K. Gerasimova, V. Sh. Aliev, “Resistive switching effect in TaN/HfO$_x$/Ni memristors with a filament formed under local electron-beam crystallization”, JETP Letters, 117:7 (2023), 546–550 |
|
2022 |
| 2. |
Т. В. Перевалов, Р. М. Х. Исхакзай, И. П. Просвирин, В. Ш. Алиев, В. А. Гриценко, “Бесформовочные мемристоры на основе оксида гафния, обработанного в водородной плазме электрон-циклотронного резонанса”, Письма в ЖЭТФ, 115:2 (2022), 89–93 ; T. V. Perevalov, R. M. Kh. Iskhakzai, I. P. Prosvirin, V. Sh. Aliev, V. A. Gritsenko, “Forming-free memristors based on hafnium oxide processed in electron cyclotron resonance hydrogen plasma”, JETP Letters, 115:2 (2022), 79–83   |
2
|
|
2020 |
| 3. |
В. Н. Кручинин, Т. В. Перевалов, В. Ш. Алиев, Р. М. Х. Исхакзай, Е. В. Спесивцев, В. А. Гриценко, В. А. Пустоваров, “Оптические свойства тонких пленок SiO$_{x}$ $(x<2)$, полученных обработкой термического диоксида кремния в водородной плазме”, Оптика и спектроскопия, 128:10 (2020), 1467–1472  ; V. N. Kruchinin, T. V. Perevalov, V. Sh. Aliev, R. M. Kh. Iskhakzai, E. V. Spesivtsev, V. A. Gritsenko, V. A. Pustovarov, “Optical properties of thin films of SiO$_{x}$ $(x<2)$, obtained by exposure of thermal silicon dioxide in hydrogen plasma”, Optics and Spectroscopy, 128:10 (2020), 1577–1582 |
3
|
|
2018 |
| 4. |
В. Н. Кручинин, В. А. Володин, Т. В. Перевалов, А. К. Герасимова, В. Ш. Алиев, В. А. Гриценко, “Оптические свойства нестехиометрического оксида тантала TaO$_{x}$ ($x<$ 5/2) по данным спектроэллипсометрии и комбинационного рассеяния”, Оптика и спектроскопия, 124:6 (2018), 777–782 ; V. N. Kruchinin, V. A. Volodin, T. V. Perevalov, A. K. Gerasimova, V. Sh. Aliev, V. A. Gritsenko, “Optical properties of nonstoichiometric tantalum oxide TaO$_{x}$ ($x<$ 5/2) according to spectral-ellipsometry and Raman-scattering data”, Optics and Spectroscopy, 124:6 (2018), 808–813 |
17
|
|
Обратная связь: