|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
1. |
В. М. Калыгина, А. В. Алмаев, В. А. Новиков, Ю. С. Петрова, “Солнечно-слепые детекторы УФ-излучения на основе пленок $\beta$-Ga$_{2}$O$_{3}$”, Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 575–579 ; V. M. Kalygina, A. V. Almaev, V. А. Novikov, Yu. S. Petrova, “Solar-blind UV detectors based on $\beta$-Ga$_{2}$O$_{3}$ films”, Semiconductors, 54:6 (2020), 682–686 |
17
|
2. |
Н. А. Торхов, В. А. Новиков, “Исследование электростатической системы поверхности кристаллов AuNi/GaN диодов Шоттки методом зонда Кельвина атомно-силовой микроскопии”, Физика и техника полупроводников, 54:3 (2020), 266–274 ; N. A. Torkhov, V. А. Novikov, “Kelvin probe force microscopy study of the electrostatic system of the crystal surface of AuNi/GaN Schottky diodes”, Semiconductors, 54:3 (2020), 337–344 |
2
|
3. |
А. В. Алмаев, Б. О. Кушнарев, Е. В. Черников, В. А. Новиков, “Синтез и газовая чувствительность тонких пленок оксида хрома”, Письма в ЖТФ, 46:20 (2020), 35–37 ; A. V. Almaev, B. O. Kushnarev, E. V. Chernikov, V. А. Novikov, “Synthesis and gas sensitivity of thin chromium oxide films”, Tech. Phys. Lett., 46:10 (2020), 1028–1031 |
2
|
|
2019 |
4. |
В. М. Калыгина, Т. З. Лыгденова, В. А. Новиков, Ю. С. Петрова, А. В. Цымбалов, Т. М. Яскевич, “Структура и свойства пленок оксида галлия, полученных высокочастотным магнетронным напылением”, Физика и техника полупроводников, 53:3 (2019), 411–417 ; V. M. Kalygina, T. Z. Lygdenova, V. А. Novikov, Yu. S. Petrova, A. V. Tsymbalov, T. M. Yaskevich, “Structure and properties of gallium-oxide films produced by high-frequency magnetron-assisted deposition”, Semiconductors, 53:3 (2019), 388–394 |
4
|
|
2016 |
5. |
В. М. Калыгина, И. М. Егорова, В. А. Новиков, И. А. Прудаев, О. П. Толбанов, “Связь структурно-фазовых изменений в пленках оксида титана с электрическими и фотоэлектрическими характеристиками структур TiO$_{2}$–Si”, Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1178–1184 ; V. M. Kalygina, I. M. Egorova, V. А. Novikov, I. A. Prudaev, O. P. Tolbanov, “Relation between the structural and phase transformations in titanium-oxide films and the electrical and photoelectric properties of TiO$_{2}$–Si structures”, Semiconductors, 50:9 (2016), 1156–1162 |
2
|
|
1984 |
6. |
А. А. Ганеев, В. А. Новиков, Ю. И. Туркин, “Спектрально-фазовые эффекты и селективное детектирование соединений
на примере иода”, ЖТФ, 54:7 (1984), 1392–1394 |
|