|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
Е. В. Фомин, А. Д. Бондарев, И. П. Сошников, N. B. Bercu, L. Giraudet, M. Molinari, T. Maurer, Н. А. Пихтин, “Применение покрытий AlN для защиты поверхности гетероструктур системы AlGaAs/GaAs от взаимодействия с атмосферным кислородом”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 16–19   ; E. V. Fomin, A. D. Bondarev, I. P. Sotnikov, N. B. Bercu, L. Giraudet, M. Molinary, T. Maurer, N. A. Pikhtin, “Using AlN coatings to protect the surface of AlGaAs/GaAs system heterostructures from interaction with atmospheric oxygen”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 268–271 |
1
|
|
2019 |
| 2. |
П. В. Середин, А. В. Федюкин, В. А. Терехов, К. А. Барков, И. Н. Арсентьев, А. Д. Бондарев, Е. В. Фомин, Н. А. Пихтин, “Фазовый состав, морфология, оптические и электронные характеристики наноразмерных пленок AlN, выращенных на подложках GaAs(100) с разориентацией”, Физика и техника полупроводников, 53:11 (2019), 1584–1592 ; P. V. Seredin, A. V. Fedyukin, V. A. Terekhov, K. A. Barkov, I. N. Arsent'ev, A. D. Bondarev, E. V. Fomin, N. A. Pikhtin, “On the phase composition, morphology, and optical and electronic characteristics of AlN nanofilms grown on misoriented GaAs (100) substrates”, Semiconductors, 53:11 (2019), 1550–1557 |
1
|
| 3. |
Н. А. Соболев, В. И. Сахаров, И. Т. Серенков, А. Д. Бондарев, К. В. Карабешкин, Е. В. Фомин, А. Е. Калядин, В. М. Микушкин, Е. И. Шек, Е. В. Шерстнев, “Образование дефектов в структурах GaAs с непокрытой и покрытой пленкой AlN поверхностями при имплантации ионов азота и последующем отжиге”, Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 437–440 ; N. A. Sobolev, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov, A. D. Bondarev, K. V. Karabeshkin, E. V. Fomin, A. E. Kalyadin, V. M. Mikushkin, E. I. Shek, E. V. Sherstnev, “Defect formation under nitrogen-ion implantation and subsequent annealing in GaAs structures with an uncovered surface and a surface covered with an AlN film”, Semiconductors, 53:4 (2019), 415–418 |
1
|
| 4. |
Е. В. Фомин, А. Д. Бондарев, A. I. Rumyantseva, T. Maurer, Н. А. Пихтин, С. А. Тарасов, “Топография поверхности и оптические характеристики тонких пленок AlN на подложке GaAs (100), полученных методом реактивного ионно-плазменного распыления”, Письма в ЖТФ, 45:5 (2019), 38–41 ; E. V. Fomin, A. D. Bondarev, A. I. Rumyantseva, T. Maurer, N. A. Pikhtin, S. A. Tarasov, “Surface topography and optical properties of thin AlN films produced on GaAs (100) substrate by reactive ion-plasma sputtering”, Tech. Phys. Lett., 45:3 (2019), 221–224 |
2
|
|
2018 |
| 5. |
Я. В. Лубянский, А. Д. Бондарев, И. П. Сошников, Н. А. Берт, В. В. Золотарев, Д. А. Кириленко, К. П. Котляр, Н. А. Пихтин, И. С. Тарасов, “Влияние концентрации кислорода в составе газовой плазмообразующей смеси на оптические и структурные свойства пленок нитрида алюминия”, Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 196–200 ; Ya. V. Lubyanskiy, A. D. Bondarev, I. P. Sotnikov, N. A. Bert, V. V. Zolotarev, D. A. Kirilenko, K. P. Kotlyar, N. A. Pikhtin, I. S. Tarasov, “Oxygen nitrogen mixture effect on aluminum nitride synthesis by reactive ion plasma deposition”, Semiconductors, 52:2 (2018), 184–188 |
7
|
|
2016 |
| 6. |
П. В. Середин, Д. А. Голощапов, А. С. Леньшин, А. Н. Лукин, А. В. Федюкин, И. Н. Арсентьев, А. Д. Бондарев, Я. В. Лубянский, И. С. Тарасов, “Особенности роста и структурно-спектроскопические исследования нанопрофилированных пленок AlN, выращенных на разориентированных подложках GaAs”, Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1283–1294 ; P. V. Seredin, D. A. Goloshchapov, A. S. Len'shin, A. N. Lukin, A. V. Fedyukin, I. N. Arsent'ev, A. D. Bondarev, Ya. V. Lubyanskiy, I. S. Tarasov, “Growth features and spectroscopic structure investigations of nanoprofiled AlN films formed on misoriented GaAs substrates”, Semiconductors, 50:9 (2016), 1261–1272 |
|
1985 |
| 7. |
А. Д. Бондарев, Н. И. Кацавец, И. Е. Кудрик, Е. И. Леонов, С. Э. Хабаров, “Получение и исследование оптических и фотоэлектрических свойств гетероэпитаксиальных пленок титаната и галлата висмута”, Письма в ЖТФ, 11:12 (1985), 713–717  |
|
Обратная связь: