Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2020, том 46, выпуск 6, страницы 16–19
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.06.49158.18088
(Mi pjtf5153)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Применение покрытий AlN для защиты поверхности гетероструктур системы AlGaAs/GaAs от взаимодействия с атмосферным кислородом

Е. В. Фоминa, А. Д. Бондаревb, И. П. Сошниковbc, N. B. Bercud, L. Giraudetd, M. Molinarid, T. Maurere, Н. А. Пихтинab

a Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Laboratoire de Recherche en Nanosciences, Université de Reims Champagne-Ardenne, Reims, France
e Laboratoire de Nanotechnologie et d’Instrumentation Optique, ICD CNRS UMR 6281, Université de Technologie de Troyes, Troyes, France
Аннотация: Представлены результаты синтеза методом реактивного ионно-плазменного распыления тонких пленок нитрида алюминия и исследования их свойств с целью применения в качестве защитных покрытий торцевых резонаторов мощных полупроводниковых лазерных гетероструктур Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As/GaAs. Исследования методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии и результаты эллипсометрии показали, что при остаточном давлении в камере порядка $\sim$10$^{-5}$ Torr в пленках образуется слой оксинитрида алюминия. При этом гетерограница пленка-подложка может претерпеть окисление. Однако пленки AlN толщиной порядка 100 nm, выращенные в среде чистого азота при остаточном давлении $\sim$10$^{-7}$ Torr, по-видимому, не содержат в составе кислород и могут надежно препятствовать его проникновению в область гетерограницы. Потенциально они могут служить эффективной защитой для гетероструктур, чувствительных к окислению.
Ключевые слова: полупроводниковые лазеры, тонкие пленки, пассивация, нитрид алюминия, деградация лазеров.
Финансовая поддержка Номер гранта
Grand Est Region Foundation
Centre National de la Recherche Scientifique ANR-18-CE09-0003
Graduate School EIPHI ANR-17-EURE0002
Pабота в части измерений химического состава пленок выполнена благодаря платформе L2N/LRN NanoMat, поддерживаемой регионом Grand Est, фондами FEDER и DDRT Grand Est. Т.М. также выражает благодарность Национальному агентству по исследованиям (проект INSOMNIA, ANR-18-CE09-0003), Высшей школе EIPHI (ANR-17-EURE0002).
Поступила в редакцию: 28.10.2019
Исправленный вариант: 16.12.2019
Принята в печать: 16.12.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2020, Volume 46, Issue 3, Pages 268–271
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785020030207
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Е. В. Фомин, А. Д. Бондарев, И. П. Сошников, N. B. Bercu, L. Giraudet, M. Molinari, T. Maurer, Н. А. Пихтин, “Применение покрытий AlN для защиты поверхности гетероструктур системы AlGaAs/GaAs от взаимодействия с атмосферным кислородом”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 16–19; Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 268–271
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{FomBonSot20}
\by Е.~В.~Фомин, А.~Д.~Бондарев, И.~П.~Сошников, N.~B.~Bercu, L.~Giraudet, M.~Molinari, T.~Maurer, Н.~А.~Пихтин
\paper Применение покрытий AlN для защиты поверхности гетероструктур системы AlGaAs/GaAs от взаимодействия с атмосферным кислородом
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2020
\vol 46
\issue 6
\pages 16--19
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5153}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.06.49158.18088}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=42776948}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2020
\vol 46
\issue 3
\pages 268--271
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785020030207}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5153
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i6/p16
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024