|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
Ю. В. Ларионов, Ю. В. Озерин, “Вариация состояния поверхности в ходе сканирования в низковольтном РЭМ и ее влияние на размеры рельефной структуры”, Физика твердого тела, 62:6 (2020), 947–954   ; Yu. V. Larionov, Yu. V. Ozerin, “Surface state variation during scanning in a low-voltage SEM and its effect on of relief structure sizes”, Phys. Solid State, 62:6 (2020), 1078–1084 |
|
2010 |
| 2. |
Ю. В. Ларионов, “Роль точечных дефектов в фоточувствительности фосфоросиликатного стекла, насыщенного водородом”, Квантовая электроника, 40:5 (2010), 441–445 [Yu. V. Larionov, “Role of point defects in the photosensitivity of hydrogen-loaded phosphosilicate glass”, Quantum Electron., 40:5 (2010), 441–445   ] |
| 3. |
Ю. В. Ларионов, В. О. Соколов, В. Г. Плотниченко, “Механизм индуцированного изменения показателя преломления в фосфоросиликатном стекле”, Квантовая электроника, 40:3 (2010), 264–268 [Yu. V. Larionov, V. O. Sokolov, V. G. Plotnichenko, “On the mechanism of photoinduced refractive index changes in phosphosilicate glass”, Quantum Electron., 40:3 (2010), 264–268 ] |
|
2008 |
| 4. |
Ю. В. Ларионов, В. О. Соколов, В. Г. Плотниченко, “Перестройка сетки фосфоросиликатного стекла под действием излучения на длине волны 193 нм”, Квантовая электроника, 38:10 (2008), 945–950 [Yu. V. Larionov, V. O. Sokolov, V. G. Plotnichenko, “Rearrangement of a phosphosilicate glass network induced by the 193-nm radiation”, Quantum Electron., 38:10 (2008), 945–950 ] |
2
|
|
2007 |
| 5. |
Ю. В. Ларионов, В. О. Соколов, В. Г. Плотниченко, “Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм”, Квантовая электроника, 37:6 (2007), 575–579 [Yu. V. Larionov, V. O. Sokolov, V. G. Plotnichenko, “Defects of a phosphosilicate glass exposed to the 193-nm radiation”, Quantum Electron., 37:6 (2007), 575–579 ] |
3
|
|
2004 |
| 6. |
Ю. В. Ларионов, А. А. Рыбалтовский, С. Л. Семенов, С. К. Вартапетов, М. А. Курзанов, А. З. Обидин, “Фоточувствительность волоконных световодов, легированных различными примесями”, Квантовая электроника, 34:2 (2004), 175–179 [Yu. V. Larionov, A. A. Rybaltovsky, S. L. Semenov, S. K. Vartapetov, M. A. Kurzanov, A. Z. Obidin, “Photosensitivity of optical fibres doped with different impurities”, Quantum Electron., 34:2 (2004), 175–179 ] |
4
|
|
2003 |
| 7. |
Ю. В. Ларионов, А. А. Рыбалтовский, С. Л. Семенов, М. А. Курзанов, А. З. Обидин, С. К. Вартапетов, “Исследование динамики преобразования точечных дефектов в фосфоросиликатных световодах по наведенному показателю преломления”, Квантовая электроника, 33:10 (2003), 919–925 [Yu. V. Larionov, A. A. Rybaltovsky, S. L. Semenov, M. A. Kurzanov, A. Z. Obidin, S. K. Vartapetov, “Study of the dynamics of transformation of point defects in phosphosilicate fibres by the induced refraction index”, Quantum Electron., 33:10 (2003), 919–925 ] |
2
|
|
2002 |
| 8. |
Ю. В. Ларионов, А. А. Рыбалтовский, С. Л. Семенов, М. М. Бубнов, Е. М. Дианов, “Особенности проявления фоточувствительности в фосфоросиликатных световодах с малыми потерями”, Квантовая электроника, 32:2 (2002), 124–128 [Yu. V. Larionov, A. A. Rybaltovsky, S. L. Semenov, M. M. Bubnov, E. M. Dianov, “Peculiarities of the photosensitivity of low-loss phosphosilica fibres”, Quantum Electron., 32:2 (2002), 124–128 ] |
4
|
|
2001 |
| 9. |
К. А. Загорулько, П. Г. Крюков, Ю. В. Ларионов, А. А. Рыбалтовский, Е. М. Дианов, Н. С. Воробьев, А. В. Смирнов, М. Я. Щелев, A. М. Прохоров, “Запись длиннопериодной решетки в волоконном световоде с помощью излучения второй гармоники фемтосекундного лазера на Ti:сапфире”, Квантовая электроника, 31:11 (2001), 999–1002 [K. A. Zagorul'ko, P. G. Kryukov, Yu. V. Larionov, A. A. Rybaltovsky, E. M. Dianov, N. S. Vorob'ev, A. V. Smirnov, M. Ya. Shchelev, A. M. Prokhorov, “Fabrication of a long-period grating in a fibre by second-harmonic radiation from a femtosecond Ti:sapphire laser”, Quantum Electron., 31:11 (2001), 999–1002 ] |
15
|
|
Обратная связь: