|
Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 6, страницы 575–579
(Mi qe13485)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Волоконная и интегральная оптика
Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
Ю. В. Ларионов, В. О. Соколов, В. Г. Плотниченко Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва
Аннотация:
Проведены измерения наведенного поглощения (НП) в спектральных диапазонах 140 – 850 и 1000 – 1700 нм в ненасыщенном водородом фосфоросиликатном стекле (ФСС) до и после его экспонирования на длине волны 193 нм. Показано, что в диапазоне 140 – 300 нм полосы НП не совпадают с полосами, зафиксированными ранее при экспонировании ФСС рентгеновским излучением. Сделано предположение, что возникновение фоторефрактивного эффекта в ФСС связано не с дефектами, обуславливающими обнаруженные полосы НП, а с индуцированными изменениями сетки стекла.
Поступила в редакцию: 22.10.2006
Образец цитирования:
Ю. В. Ларионов, В. О. Соколов, В. Г. Плотниченко, “Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм”, Квантовая электроника, 37:6 (2007), 575–579 [Quantum Electron., 37:6 (2007), 575–579]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe13485 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v37/i6/p575
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 161 | PDF полного текста: | 106 | Первая страница: | 1 |
|