Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм

Проведены измерения наведенного поглощения (НП) в спектральных диапазонах 140 – 850 и 1000 – 1700 нм в ненасыщенном водородом фосфоросиликатном стекле (ФСС) до и после его экспонирования на длине волны 193 нм. Показано, что в диапазоне 140 – 300 нм полосы НП не совпадают с полосами, зафиксированными ранее при экспонировании ФСС рентгеновским излучением. Сделано предположение, что возникновение фоторефрактивного эффекта в ФСС связано не с дефектами, обуславливающими обнаруженные полосы НП, а с индуцированными изменениями сетки стекла.