|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1997 |
1. |
Р. З. Бахтизин, Т. Хашицуме, Ш.-Д. Вонг, Т. Сакурай, “Сканирующая туннельная микроскопия фуллеренов на поверхности металлов и полупроводников”, УФН, 167:3 (1997), 289–307 ; R. Z. Bakhtizin, T. Hashizume, W.-D. Wang, T. Sakurai, “Scanning tunneling microscopy of fullerenes on metal and semiconductor surfaces”, Phys. Usp., 40:3 (1997), 275–290 |
16
|
|