|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2016 |
| 1. |
М. О. Макеев, Ю. А. Иванов, С. А. Мешков, “Оценка стойкости к диффузионной деструкции наноразмерных AlAs/GaAs резонансно-туннельных гетероструктур методом ИК-спектральной эллипсометрии”, Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016), 83–88   ; M. O. Makeev, Yu. A. Ivanov, S. A. Meshkov, “Assessment of the resistance to diffusion destruction of AlAs/GaAs nanoscale resonant-tunneling heterostructures by IR spectral ellipsometry”, Semiconductors, 50:1 (2016), 83–88 |
9
|
|
Обратная связь: