|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
В. К. Егоров, Е. В. Егоров, М. С. Афанасьев, “Ионно-пучковые и рентгеновские методы элементной диагностики тонкопленочных покрытий”, Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2454–2460   ; V. K. Egorov, E. V. Egorov, M. S. Afanasiev, “Ion-beam and X-ray methods of elemental diagnostics of thin film coatings”, Phys. Solid State, 61:12 (2019), 2480–2486 |
|
2018 |
| 2. |
В. К. Егоров, Е. В. Егоров, “Особенности формирования рентгеновских потоков волноводами-резонаторами различных конструкций”, Оптика и спектроскопия, 124:6 (2018), 808–820 ; V. K. Egorov, E. V. Egorov, “Peculiarities in the formation of X-ray fluxes by waveguide–resonators of different construction”, Optics and Spectroscopy, 124:6 (2018), 838–849 |
4
|
|
2017 |
| 3. |
В. К. Егоров, Е. В. Егоров, С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, “Структурная гетероэпитаксия при топохимическом превращении кремния в карбид кремния”, Физика твердого тела, 59:4 (2017), 755–761 ; V. K. Egorov, E. V. Egorov, S. A. Kukushkin, A. V. Osipov, “Structural heteroepitaxy during topochemical transformation of silicon to silicon carbide”, Phys. Solid State, 59:4 (2017), 773–779 |
3
|
|
Обратная связь: