|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2018 |
| 1. |
В. А. Смирнов, Р. В. Томинов, Н. И. Алябьева, М. В. Ильина, В. В. Полякова, Ал. В. Быков, О. А. Агеев, “Методика определения удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии”, ЖТФ, 88:8 (2018), 1273–1278   ; V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. I. Alyab'eva, M. V. Il'ina, V. V. Polyakova, Al. V. Bykov, O. A. Ageev, “Atomic force microscopy measurement of the resistivity of semiconductors”, Tech. Phys., 63:8 (2018), 1236–1241 |
11
|
|
Обратная связь: