|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
1. |
J. Feng, Y.-D. Li, J. Fu, L. Wen, C.-F. He, Q. Guo, “Effect of total ionizing dose damage on 8-transistor CMOS star sensor performance”, Физика и техника полупроводников, 55:1 (2021), 84 ; Semiconductors, 55:1 (2021), 108–115 |
4
|
|