|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
1. |
В. Х. Фам, Т. Ф. Нго, Л. А. Губанова, “Проектирование конструкций нейтральных неполяризующих интерференционных систем, размещенных между средами с одинаковыми показателями преломления”, Оптика и спектроскопия, 128:2 (2020), 277–281 ; V. Kh. Pham, T. F. Ngo, L. A. Gubanova, “Design of nonpolarizing interference systems placed between mediums with the same refractive index”, Optics and Spectroscopy, 128:2 (2020), 269–273 |
|
2019 |
2. |
В. Фам, Т. Нго, Л. А. Губанова, “Проектирование неполяризующих интерференционных систем”, Компьютерная оптика, 43:4 (2019), 550–556 |
1
|
3. |
Фам Ван Хоа, Нго Тхай Фи, Л. А. Губанова, “Неполяризующие интерференционные системы, содержащие металлические слои”, Оптика и спектроскопия, 127:3 (2019), 523–527 ; Pham Van Hoa, Ngo Thai Phi, L. A. Gubanova, “Nonpolarizing interference systems containing metallic layers”, Optics and Spectroscopy, 127:3 (2019), 581–585 |
4. |
V. B. Nguyen, Л. А. Губанова, D. B. Bui, “Особенности спектральных характеристик узкополосных светофильтров при наклонном падении пучка излучения”, Письма в ЖТФ, 45:9 (2019), 10–12 ; V. B. Nguyen, L. A. Gubanova, D. B. Bui, “Spectral characteristics of narrow-band optical filters at oblique incidence of a light beam”, Tech. Phys. Lett., 45:5 (2019), 430–432 |
3
|
|
2018 |
5. |
Нго Тхай Фи, Л. А. Губанова, Фам Ван Хоа, “Повышение устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонению в параметрах слоев, входящих в их состав”, Оптика и спектроскопия, 125:2 (2018), 284–288 ; Ngo Thai Phi, L. A. Gubanova, Pham Van Khoa, “Enhancing the resistance of spectral characteristics of interference coatings to deviation in parameters of layers entering into their composition”, Optics and Spectroscopy, 125:2 (2018), 300–304 |
6. |
V. B. Nguyen, Л. А. Губанова, “Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения”, Письма в ЖТФ, 44:16 (2018), 89–95 ; V. B. Nguyen, L. A. Gubanova, “Measuring the extinction index of dielectric films using frustrated total internal reflectance spectroscopy”, Tech. Phys. Lett., 44:8 (2018), 746–748 |
1
|
|
2017 |
7. |
Т. Л. Хоанг, Л. А. Губанова, В. Б. Нгуен, “Увеличение зоны просветления оптических деталей большой кривизны”, Компьютерная оптика, 41:6 (2017), 856–863 |
|