Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2018, том 44, выпуск 16, страницы 89–95
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.16.46481.17212 (Mi pjtf5726) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения

V. B. Nguyen, Л. А. Губанова

Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
PDF полного текста (132 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.16.46481.17212
Аннотация: Рассмотрены различные методы измерения показателя ослабления излучения в оптических покрытиях. Показана возможность измерения безразмерного показателя ослабления излучения для покрытий, формирующихся из слабопоглощающих пленкообразующих материалов, с помощью приставки в виде призмы-параллелепипеда. Параметры данной приставки рассчитаны так, чтобы ее можно было разместить в стандартных спектрофотометрах.
Поступила в редакцию: 16.01.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2018, Volume 44, Issue 8, Pages 746–748
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785018080278
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: V. B. Nguyen, Л. А. Губанова, “Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения”, Письма в ЖТФ, 44:16 (2018), 89–95; Tech. Phys. Lett., 44:8 (2018), 746–748
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NguGub18}
\by V.~B.~Nguyen, Л.~А.~Губанова
\paper Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2018
\vol 44
\issue 16
\pages 89--95
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5726}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.16.46481.17212}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35270718}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2018
\vol 44
\issue 8
\pages 746--748
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785018080278}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5726
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i16/p89
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:40
    PDF полного текста:11
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024