Loading [MathJax]/jax/output/SVG/config.js
Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2023, том 93, выпуск 7, страницы 1032–1036
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2023.07.55765.105-23
(Mi jtf7046)
 

XXVII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'' Н. Новгород, 13-16 марта, 2023 г.
Физическая электроника

Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si$_3$N$_4$ мембран

Д. Г. Реунов, Н. С. Гусев, М. С. Михайленко, Д. В. Петрова, И. В. Малышев, Н. И. Чхало

Институт физики микроструктур РАН, 607680 Нижний Новгород, Россия
Аннотация: Экспериментально были получены мембраны из нитрида кремния в качестве подложек для биологических образцов, которые исследованы на микроскопе с рабочей длиной волны 13.8 nm. Полученные свободно висящие пленки имели размер до 1.5 $\times$ 1.5 mm, что позволило выбрать интересную для исследования область на образце порядка десятков – сотен микрон. Механическая прочность мембран удовлетворяет требованию, чтобы образцы не рвали мембраны и выдерживали транспортировку. Полученные мембраны имеют прозрачность более 40% в диапазоне “окна прозрачности воды” (2.3–4.4 nm) и экстремальный ультрафиолет (13–15 nm).
Ключевые слова: мембраны Si$_3$N$_4$, фотолитография, микроскопия мягкого рентгеновского излучения, экстремальная ультрафиолетовая микроскопия, корреляционная микроскопия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 22-62-00068
Работа выполнена при финансовой поддержке РНФ грант № 22-62-00068.
Поступила в редакцию: 02.05.2023
Исправленный вариант: 02.05.2023
Принята в печать: 02.05.2023
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. Г. Реунов, Н. С. Гусев, М. С. Михайленко, Д. В. Петрова, И. В. Малышев, Н. И. Чхало, “Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si$_3$N$_4$ мембран”, ЖТФ, 93:7 (2023), 1032–1036
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ReuGusMik23}
\by Д.~Г.~Реунов, Н.~С.~Гусев, М.~С.~Михайленко, Д.~В.~Петрова, И.~В.~Малышев, Н.~И.~Чхало
\paper Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si$_3$N$_4$ мембран
\jour ЖТФ
\yr 2023
\vol 93
\issue 7
\pages 1032--1036
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf7046}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2023.07.55765.105-23}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=54384509}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf7046
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v93/i7/p1032
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:18
    PDF полного текста:2
     
      Обратная связь:
    math-net2025_03@mi-ras.ru
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025