|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
Ю. Б. Болховитянов, А. К. Гутаковский, А. С. Дерябин, Л. В. Соколов, “Образование дислокационных пар в гетероструктуре Ge/GeSi/Si(001)”, Физика твердого тела, 61:2 (2019), 284–287   ; Yu. B. Bolkhovityanov, A. K. Gutakovskii, A. S. Deryabin, L. V. Sokolov, “Forming dislocation pairs in the Ge/GeSi/Si(001) heterostructure”, Phys. Solid State, 61:2 (2019), 145–148 |
|
2018 |
| 2. |
А. С. Дерябин, Л. В. Соколов, Е. М. Труханов, К. Б. Фрицлер, “Достоверность выявления пронизывающих дислокаций в эпитаксиальных пленках с помощью структурно-чувствительного травления”, Письма в ЖТФ, 44:20 (2018), 30–36 ; A. S. Deryabin, L. V. Sokolov, E. M. Trukhanov, K. B. Fritzler, “The reliability of revealing threading dislocations in epitaxial films by structure-sensitive etching”, Tech. Phys. Lett., 44:10 (2018), 916–918 |
1
|
|
2015 |
| 3. |
В. А. Володин, Л. В. Соколов, “Длинноволновый сдвиг края поглощения в растянутых слоях Ge”, Письма в ЖЭТФ, 101:6 (2015), 455–458 ; V. A. Volodin, L. V. Sokolov, “Redshift of the absorption edge in tensile-strained germanium layers”, JETP Letters, 101:6 (2015), 419–421   |
6
|
|
Обратная связь: