|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
А. В. Воронин, В. Ю. Горяинов, В. В. Забродский, Е. В. Шерстнев, В. А. Корнев, П. Н. Аруев, Г. С. Курскиев, Н. А. Жубр, А. С. Тукачинский, “Измерение электронной температуры плазмы фольговым рентгеновским спектрометром, установленным на токамаках ТУМАН-3М и Глобус-М2”, ЖТФ, 91:12 (2021), 1922–1929   |
1
|
| 2. |
Ю. А. Баринов, К. К. Забелло, А. А. Логачёв, И. Н. Полуянова, Е. В. Шерстнев, С. М. Школьник, “Мощность излучения сильноточной вакуумной дуги, стабилизированной аксиальным магнитным полем, в видимой и ультрафиолетовой областях спектра”, Письма в ЖТФ, 47:3 (2021), 18–20 ; Yu. A. Barinov, K. K. Zabello, A. A. Logachev, I. N. Poluyanova, E. V. Sherstnev, S. M. Shkol'nik, “Radiation power of a high-current vacuum arc stabilized by an axial magnetic field in the visible and UV ranges of the spectrum”, Tech. Phys. Lett., 47:2 (2021), 118–121 |
6
|
|
2020 |
| 3. |
П. Н. Аруев, В. П. Белик, В. В. Забродский, Е. М. Круглов, А. В. Николаев, В. И. Сахаров, И. Т. Серенков, В. В. Филимонов, Е. В. Шерстнев, “Квантовый выход кремниевого лавинного фотодиода в диапазоне длин волн 120–170 nm”, ЖТФ, 90:8 (2020), 1386–1392 ; P. N. Aruev, V. P. Belik, V. V. Zabrodskii, E. M. Kruglov, A. V. Nikolaev, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov, V. V. Filimonov, E. V. Sherstnev, “Quantum yield of a silicon avalanche photodiode in the wavelength range of 120–170 nm”, Tech. Phys., 65:8 (2020), 1333–1339 |
3
|
| 4. |
П. Н. Аруев, А. И. Берлёв, В. В. Забродский, С. В. Задорожный, А. В. Николаев, Н. А. Титов, Е. В. Шерстнев, “Детектор для регистрации электронов с энергией 5–30 keV в установке “Троицк ню-масс””, ЖТФ, 90:4 (2020), 693–698 ; P. N. Aruev, A. I. Berlev, V. V. Zabrodskii, S. V. Zadorozhny, A. V. Nikolaev, N. A. Titov, E. V. Sherstnev, “Detector for detection of electrons with an energy of 5–30 keV for the “Troitsk nu-mass” setup”, Tech. Phys., 65:4 (2020), 666–671 |
|
2019 |
| 5. |
Н. А. Соболев, В. И. Сахаров, И. Т. Серенков, А. Д. Бондарев, К. В. Карабешкин, Е. В. Фомин, А. Е. Калядин, В. М. Микушкин, Е. И. Шек, Е. В. Шерстнев, “Образование дефектов в структурах GaAs с непокрытой и покрытой пленкой AlN поверхностями при имплантации ионов азота и последующем отжиге”, Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 437–440 ; N. A. Sobolev, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov, A. D. Bondarev, K. V. Karabeshkin, E. V. Fomin, A. E. Kalyadin, V. M. Mikushkin, E. I. Shek, E. V. Sherstnev, “Defect formation under nitrogen-ion implantation and subsequent annealing in GaAs structures with an uncovered surface and a surface covered with an AlN film”, Semiconductors, 53:4 (2019), 415–418 |
1
|
| 6. |
В. В. Забродский, П. Н. Аруев, Б. Я. Бер, Д. Ю. Казанцев, А. Н. Горохов, А. В. Николаев, В. В. Филимонов, М. З. Шварц, Е. В. Шерстнев, “Квантовый выход кремниевого XUV-лавинного фотодиода в диапазоне длин волн 320–1100 nm”, Письма в ЖТФ, 45:24 (2019), 10–13 ; V. V. Zabrodskii, P. N. Aruev, B. Ya. Ber, D. Yu. Kazantsev, A. N. Gorokhov, A. V. Nikolaev, V. V. Filimonov, M. Z. Shvarts, E. V. Sherstnev, “Quantum yield of a silicon XUV avalanche photodiode in the 320–1100 nm wavelength range”, Tech. Phys. Lett., 45:12 (2019), 1226–1229 |
2
|
| 7. |
П. Н. Аруев, Б. Я. Бер, А. Н. Горохов, В. В. Забродский, Д. Ю. Казанцев, А. В. Николаев, В. В. Филимонов, М. З. Шварц, Е. В. Шерстнёв, “Характеристики кремниевого лавинного фотодиода для ближнего ИК-диапазона”, Письма в ЖТФ, 45:15 (2019), 40–42 ; P. N. Aruev, B. Ya. Ber, A. N. Gorokhov, V. V. Zabrodskii, D. Yu. Kazantsev, A. V. Nikolaev, V. V. Filimonov, M. Z. Shvarts, E. V. Sherstnev, “Characteristics of a silicon avalanche photodiode for the near-IR spectral range”, Tech. Phys. Lett., 45:8 (2019), 780–782 |
2
|
|
2018 |
| 8. |
Н. А. Соболев, А. Е. Калядин, К. В. Карабешкин, Р. Н. Кютт, В. М. Микушкин, Е. И. Шек, Е. В. Шерстнев, В. И. Вдовин, “Дефектная структура слоев GaAs, имплантированных ионами азота”, Письма в ЖТФ, 44:18 (2018), 24–30 ; N. A. Sobolev, A. E. Kalyadin, K. V. Karabeshkin, R. N. Kyutt, V. M. Mikushkin, E. I. Shek, E. V. Sherstnev, V. I. Vdovin, “Defect structure of GaAs layers implanted with nitrogen ions”, Tech. Phys. Lett., 44:9 (2018), 817–819 |
2
|
| 9. |
Н. А. Соболев, Б. Я. Бер, Д. Ю. Казанцев, А. Е. Калядин, К. В. Карабешкин, В. М. Микушкин, В. И. Сахаров, И. Т. Серенков, Е. И. Шек, Е. В. Шерстнев, Н. М. Шмидт, “Влияние дозы имплантации ионов азота на концентрацию точечных дефектов, введенных в слои GaAs”, Письма в ЖТФ, 44:13 (2018), 44–50 ; N. A. Sobolev, B. Ya. Ber, D. Yu. Kazantsev, A. E. Kalyadin, K. V. Karabeshkin, V. M. Mikushkin, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov, E. I. Shek, E. V. Sherstnev, N. M. Shmidt, “The effect of dose of nitrogen-ion implantation on the concentration of point defects introduced into GaAs layers”, Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 574–576 |
3
|
|
Обратная связь: