|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
O. Maksimova, S. Lyaschenko, I. Tarasov, I. Yakovlev, Yu. Mikhlin, S. Varnakov, S. Ovchinnikov, “The magneto-optical voigt parameter from magneto-optical ellipsometry data for multilayer samples with single ferromagnetic layer”, Физика твердого тела, 63:9 (2021), 1311   ; Phys. Solid State, 63:10 (2021), 1485–1495 |
2
|
| 2. |
А. С. Паршин, Ю. Л. Михлин, Г. А. Александрова, “Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов $\gamma$-Fe$_{2}$O$_{3}$”, Физика твердого тела, 63:8 (2021), 1049–1055 ; A. S. Parshin, Yu. L. Mikhlin, G. A. Alexandrova, “Spectroscopy of reflected electron energy losses of $\gamma$-Fe$_{2}$O$_{3}$”, Phys. Solid State, 63:8 (2021), 1294–1300 |
|
2016 |
| 3. |
А. С. Паршин, А. Ю. Игуменов, Ю. Л. Михлин, О. П. Пчеляков, В. С. Жигалов, “Сравнительный анализ спектров характеристических потерь энергии электронов и спектров сечения неупругого рассеяния в Fe”, Физика твердого тела, 58:5 (2016), 881–887 ; A. S. Parshin, A. Yu. Igumenov, Yu. L. Mikhlin, O. P. Pchelyakov, V. S. Zhigalov, “Comparative analysis of characteristic electron energy loss spectra and inelastic scattering cross-section spectra of Fe”, Phys. Solid State, 58:5 (2016), 908–914 |
5
|
| 4. |
А. С. Паршин, А. Ю. Игуменов, Ю. Л. Михлин, О. П. Пчеляков, В. С. Жигалов, “Исследование дисилицида железа методами электронной спектроскопии”, ЖТФ, 86:9 (2016), 136–140 ; A. S. Parshin, A. Yu. Igumenov, Yu. L. Mikhlin, O. P. Pchelyakov, V. S. Zhigalov, “Electron spectroscopy of iron disilicide”, Tech. Phys., 61:9 (2016), 1418–1422 |
4
|
| 5. |
А. С. Паршин, С. А. Кущенков, О. П. Пчеляков, Ю. Л. Михлин, “Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO$_{2}$/Si(111)”, Физика и техника полупроводников, 50:3 (2016), 344–349 ; A. S. Parshin, S. A. Kushchenkov, O. P. Pchelyakov, Yu. L. Mikhlin, “Layer-by-layer analysis of the thickness distribution of silicon dioxide in the structure SiO$_{2}$/Si(111) by inelastic electron scattering cross-section spectroscopy”, Semiconductors, 50:3 (2016), 339–344 |
|
Обратная связь: