|
Журнал технической физики, 2016, том 86, выпуск 9, страницы 136–140
(Mi jtf6457)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Физическая электроника
Исследование дисилицида железа методами электронной спектроскопии
А. С. Паршинa, А. Ю. Игуменовa, Ю. Л. Михлинb, О. П. Пчеляковac, В. С. Жигаловad a Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева
b Институт химии и химической технологии СО РАН, г. Красноярск
c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
d Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
Аннотация:
Представлены результаты комплексного исследования дисилицида железа FeSi$_{2}$ методами спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, сечения неупругого рассеяния электронов и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что основной пик в спектрах сечения неупругого рассеяния электронов FeSi$_{2}$ представляет собой суперпозицию двух неразрешенных пиков – поверхностного и объемного плазмонов. Исследование тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов посредством их разложения на лоренцево-подобные пики Тоугаарда позволило количественно оценить вклады отдельных процессов потерь энергии в результирующий спектр, определить их природу и энергии.
Поступила в редакцию: 26.10.2015
Образец цитирования:
А. С. Паршин, А. Ю. Игуменов, Ю. Л. Михлин, О. П. Пчеляков, В. С. Жигалов, “Исследование дисилицида железа методами электронной спектроскопии”, ЖТФ, 86:9 (2016), 136–140; Tech. Phys., 61:9 (2016), 1418–1422
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6457 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v86/i9/p136
|
|