|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
О. В. Наумова, Б. И. Фомин, Е. В. Дмитриенко, И. А. Пышная, Д. В. Пышный, “Модификация поверхности КНИ-сенсоров для детекции РНК-биомаркеров”, Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 394–399   ; O. Naumova, B. I. Fomin, E. V. Dmitrienko, I. A. Pyshnaya, D. V. Pyshnyi, “Surface modification of SOI sensors for the detection of RNA biomarkers”, Semiconductors, 54:4 (2020), 471–475 |
2
|
| 2. |
Э. Г. Зайцева, О. В. Наумова, Б. И. Фомин, “Профилирование компонент подвижности вблизи гетерограниц тонких пленок кремния”, Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020), 124–128 ; E. G. Zaytseva, O. Naumova, B. I. Fomin, “Profiling mobility components near the heterointerfaces of thin silicon films”, Semiconductors, 54:2 (2020), 176–180 |
1
|
|
2017 |
| 3. |
Э. Г. Зайцева, О. В. Наумова, Б. И. Фомин, “Подвижность электронов в инверсионных слоях полностью обедняемых пленок кремний-на-изоляторе”, Физика и техника полупроводников, 51:4 (2017), 446–452 ; E. G. Zaytseva, O. Naumova, B. I. Fomin, “Electron mobility in the inversion layers of fully depleted SOI films”, Semiconductors, 51:4 (2017), 423–429 |
1
|
|
Обратная связь: