Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Смирнова Ирина Алекссевна

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 5
Научных статей: 5

Статистика просмотров:
Эта страница:61
Страницы публикаций:398
Полные тексты:134
Списки литературы:27
кандидат физико-математических наук
Специальность ВАК: 01.04.07 (физика конденсированного состояния)
Ключевые слова: дефекты кристаллической структуры, физика дифракции рентгеновских лучей, рентгеновская топография, рентгеновская оптика, дифракционный контраст дефектов.

Основные темы научной работы

Дифракция рентгеновского излучения на кристаллической решетке с дефектами

   
Основные публикации:
  • 1. Смирнова И.А., Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков Дифракция рентгеновского излучения на однородно изогнутом кристалла в геометрии на отражение ФТТ 2011, том 53, вып. 1, стр.35-40
  • 2. Суворов Э.В., И.А.Смирнова Дифракционное изображение винтовых дислокаций в методах рентгеновской секционной топографии Поверхность, №12, (2011), с.1-4
  • 3. Суворов Э.В., Методы исследования реальной структуры и состава материалов. Москва, Издательский дом МИСиС, 2011, -163c. (ISBN978-5-87623-512-1, Уч.-изд.л.20,4, рег.№248)
  • 4. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии Письма ЖТФ 2012, 38,21, c.70-76

https://www.mathnet.ru/rus/person112075
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2019
1. И. А. Смирнова, Е. В. Шулаков, Э. В. Суворов, “Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения”, Физика твердого тела, 61:8 (2019),  1499–1504  mathnet  elib; I. A. Smirnova, E. V. Shulakov, E. V. Suvorov, “Formation of edge dislocation image under anomalous X-ray transmission”, Phys. Solid State, 61:8 (2019), 1444–1449 1
2016
2. Э. В. Суворов, И. А. Смирнова, “Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью “изгибных интерференционных полос””, Письма в ЖТФ, 42:18 (2016),  55–62  mathnet  elib; E. V. Suvorov, I. A. Smirnova, “A new high-sensitivity X-ray diffraction technique for determining local deformations of a crystal surface using “bending interference fringes””, Tech. Phys. Lett., 42:9 (2016), 955–958 5
2015
3. Э. В. Суворов, И. А. Смирнова, “Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)”, УФН, 185:9 (2015),  897–915  mathnet  elib; E. V. Suvorov, I. A. Smirnova, “X-ray diffraction imaging of defects in topography (microscopy) studies”, Phys. Usp., 58:9 (2015), 833–849  isi 11
1986
4. И. В. Грехов, А. Ф. Кардо-Сысоев, И. А. Смирнова, С. В. Шендерей, В. С. Юферев, “Быстрые ионизационные волны в полупроводнике, связанные с переизлучением”, Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986),  1335–1337  mathnet
1985
5. И. В. Грехов, В. М. Ефанов, А. Ф. Кардо-Сысоев, И. А. Смирнова, “Полупроводниковые мощные субнаносекундные коммутаторы с большим временем удержания в проводящем состоянии”, Письма в ЖТФ, 11:15 (1985),  901–904  mathnet  isi

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024