Аннотация:
Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов расположенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей.
Образец цитирования:
И. А. Смирнова, Е. В. Шулаков, Э. В. Суворов, “Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения”, Физика твердого тела, 61:8 (2019), 1499–1504; Phys. Solid State, 61:8 (2019), 1444–1449