Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью “изгибных интерференционных полос”

Предложен новый высокочувствительный метод для исследования локальных деформаций поверхности, обусловленных дефектами кристаллов. Метод основан на анализе формы “интерференционных деформационных полос” в геометрии брэгговской дифракции рентгеновских лучей. Полученные результаты показывают, что метод “интерференционных полос” позволяет количественно оценивать очень слабые локальные деформации поверхности. Показано, что удается измерять локальные изгибы кристаллографических плоскостей от десятков до нескольких сотен метров.