|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ
Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия
В. С. Эдельман Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, г. Москва
Поступила: 29 мая 2000 г.
Образец цитирования:
В. С. Эдельман, “Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия”, УФН, 170:9 (2000), 995–996; Phys. Usp., 43:9 (2000), 925–926
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn1796 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v170/i9/p995
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 142 | PDF полного текста: | 49 | Список литературы: | 25 | Первая страница: | 1 |
|