Теория вероятностей и ее применения
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Теория вероятн. и ее примен.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Теория вероятностей и ее применения, 1963, том 8, выпуск 4, страницы 431–443 (Mi tvp4690)  
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

К обнаружению разладок производственного процесса. II

А. Н. Ширяев

г. Москва
PDF полного текста (1119 kB) Список цитирования (8)
Поступила в редакцию: 03.11.1961
Англоязычная версия:
Theory of Probability and its Applications, 1963, Volume 8, Issue 4, Pages 402–413
DOI: https://doi.org/10.1137/1108045
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. Н. Ширяев, “К обнаружению разладок производственного процесса. II”, Теория вероятн. и ее примен., 8:4 (1963), 431–443; Theory Probab. Appl., 8:4 (1963), 402–413
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Shi63}
\by А.~Н.~Ширяев
\paper К~обнаружению разладок производственного процесса.~II
\jour Теория вероятн. и ее примен.
\yr 1963
\vol 8
\issue 4
\pages 431--443
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvp4690}
\transl
\jour Theory Probab. Appl.
\yr 1963
\vol 8
\issue 4
\pages 402--413
\crossref{https://doi.org/10.1137/1108045}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp4690
  • https://www.mathnet.ru/rus/tvp/v8/i4/p431
    Цикл статей
    Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Теория вероятностей и ее применения Theory of Probability and its Applications
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:205
    PDF полного текста:94
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024