|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Оптимизационный анализ задач электростатической маскировки
Г. В. Алексеевab, А. В. Лобановba a Дальневосточный федеральный университет, ул. Суханова, 8, г. Владивосток 690091, Россия
b Институт прикладной математики ДВО РАН, ул. Радио, 7, г. Владивосток 690041, Россия
Аннотация:
Рассматриваются обратные задачи электростатики, возникающие при проектировании двумерных многослойных экранирующих и маскировочных устройств. C использованием оптимизационного метода рассматриваемые обратные задачи сводятся к конечномерным экстремальным задачам, в которых постоянные диэлектрические проницаемости каждого слоя играют роль управляющих параметров. Разрабатывается численный алгоритм их решения, основанный на методе роя частиц. Показывается, что устройства, спроектированные с помощью предложенного алгоритма, обладают наивысшей маскировочной эффективностью и простотой технической реализации.
Ключевые слова:
обратные задачи, электростатическая маскировка, метод оптимизации, метод роя частиц.
Статья поступила: 08.07.2020 Окончательный вариант: 31.07.2020
Образец цитирования:
Г. В. Алексеев, А. В. Лобанов, “Оптимизационный анализ задач электростатической маскировки”, Сиб. журн. индустр. матем., 23:4 (2020), 5–17; J. Appl. Industr. Math., 14:4 (2020), 599–609
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/sjim1105 https://www.mathnet.ru/rus/sjim/v23/i4/p5
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 286 | PDF полного текста: | 122 | Список литературы: | 42 | Первая страница: | 4 |
|