Аннотация:
Предложен алгоритм построения проверочных матриц регулярных кодов с малой плотностью проверок на четность, основанных на матрицах перестановок и системах троек Штейнера S(v,3,2) при v=2m−1. Для полученных кодовых конструкций приведены оценки на скорость, минимальное кодовое расстояние, а также на минимальную длину цикла. Представлены результаты моделирования предложенных кодовых конструкций для итеративного алгоритма декодирования “распространение доверия” (Sum-Product) при передаче кодового слова с помощью двоичной фазовой манипуляции по каналу с аддитивным белым гауссовским шумом.
Поступила в редакцию: 15.05.2013 После переработки: 27.08.2013
Образец цитирования:
Ф. И. Иванов, В. В. Зяблов, “Коды с малой плотностью проверок на четность, основанные на тройках Штейнера и матрицах перестановок”, Пробл. передачи информ., 49:4 (2013), 41–56; Problems Inform. Transmission, 49:4 (2013), 333–347
\RBibitem{IvaZya13}
\by Ф.~И.~Иванов, В.~В.~Зяблов
\paper Коды с~малой плотностью проверок на четность, основанные на тройках Штейнера и матрицах перестановок
\jour Пробл. передачи информ.
\yr 2013
\vol 49
\issue 4
\pages 41--56
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ppi2122}
\transl
\jour Problems Inform. Transmission
\yr 2013
\vol 49
\issue 4
\pages 333--347
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0032946013040042}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000330766500004}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84898014029}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ppi2122
https://www.mathnet.ru/rus/ppi/v49/i4/p41
Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
Goldwyn Millar, Michel Kulhandjian, Ayse Alaca, Saban Alaca, Claude D'Amours, Halim Yanikomeroglu, “Low-Density Spreading Design Based on an Algebraic Scheme for NOMA Systems”, IEEE Wireless Commun. Lett., 11:4 (2022), 698
Gershgorin R.A., Rubanov L.I., Seliverstov A.V., “Easily Computable Invariants For Hypersurface Recognition”, J. Commun. Technol. Electron., 60:12 (2015), 1429–1431