Аннотация:
Экспериментально продемонстрирован высокодобротный сверхпроводящий резонатор с микромостиком из пленки гафния для применения в схеме считывания изображающей матрицы терагерцевого диапазона с частотным мультиплексированием. Исследовалась вариабельность импеданса мостика на частоте 1.5 GHz, что является ключевым фактором управления добротностью резонатора. Мостик, имеющий толщину около 50 nm, критическую температуру TC≈ 380 mK и размер в плане 2.5 × 2.5 μm, был включен как нагрузка резонатора, выполненного из пленки ниобия толщиной около 100 nm (TC∼ 9 K). Показано, что мостик плавно меняет свой импеданс пропорционально мощности смещения во всем диапазоне температур. Измерения эффективной теплоизоляции мостика проводились в криостате растворения при температурах 50–300 mK. Вычислена тепловая проводимость мостика G, которая составила ∼4 ⋅ 10−13 W/K, что дает оценку чувствительности структуры в болометрическом режиме NEP ≈ 8 ⋅ 10−19 W/Hz1/2 при температуре 150 mK.
Работа в части теоретических расчетов и моделирования поддерживалась Министерством образования и науки РФ в рамках программы повышения конкурентоспособности НИТУ МИСиС (грант № К2-2014-025), а в части экспериментальных исследований – грантом Российского научного фонда № 17-19-01786.
Образец цитирования:
А. В. Меренков, С. В. Шитов, В. И. Чичков, А. Б. Ермаков, Т. М. Ким, А. В. Устинов, “Сверхпроводящий резонатор с микромостиком из гафния при температурах 50–350 mK”, Письма в ЖТФ, 44:13 (2018), 59–67; Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 581–584
\RBibitem{MerShiChi18}
\by А.~В.~Меренков, С.~В.~Шитов, В.~И.~Чичков, А.~Б.~Ермаков, Т.~М.~Ким, А.~В.~Устинов
\paper Сверхпроводящий резонатор с микромостиком из гафния при температурах 50--350 mK
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2018
\vol 44
\issue 13
\pages 59--67
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5764}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.13.46328.17149}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35270658}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2018
\vol 44
\issue 7
\pages 581--584
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378501807012X}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5764
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i13/p59
Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
T. M. Kim, A. V. Merenkov, An. B. Ermakov, L. S. Solomatov, V. I. Chichkov, S. V. Shitov, “Devices and Methods for Measuring Parameters of RFTES Bolometers”, Tech. Phys., 69:5 (2024), 1222
Victoria Yu. Safonova, Anna V. Gordeeva, Anton V. Blagodatkin, Dmitry A. Pimanov, Anton A. Yablokov, Olga L. Ermolaeva, Andrey L. Pankratov, “Investigation of Hafnium Thin Films for Design of TES Microcalorimeters”, Materials, 17:1 (2023), 222
А. V. Merenkov, V. I. Chichkov, S. V. Shitov, “Express Analysis of the Dependence of the Critical Temperature of Superconducting Film on its Thickness”, Meas Tech, 62:11 (2020), 973
А.V. Merenkov, V.I. Chichkov, S.V. Shitov, “Express analysis of the dependence of the superconducting film critical temperature on its thickness”, Izmer. Tekhn., 2019, № 11, 43