|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1989 |
1. |
О. В. Гончаровский, Е. Л. Кон, “Синтез функциональных тестов для однокристальных микропроцессоров”, Автомат. и телемех., 1989, № 12, 118–129 ; O. V. Goncharovskiy, E. L. Kon, “Design of functional tests for single-crystal microprocessors”, Autom. Remote Control, 50:12 (1989), 1710–1718 |
|
1984 |
2. |
В. В. Киселев, Е. Л. Кон, “Безусловный алгоритм поиска кратных дефектов в комбинационных устройствах”, Автомат. и телемех., 1984, № 11, 155–163 ; V. Kiselev, E. L. Kon, “An unconditional algorithm of search for multiple faults in combinational devices”, Autom. Remote Control, 45:11 (1984), 1520–1527 |
|
1980 |
3. |
В. В. Киселев, Е. Л. Кон, “Проверка исправности ветвей в произвольных комбинационных устройствах”, Автомат. и телемех., 1980, № 11, 143–151 ; V. Kiselev, E. L. Kon, “Testing branches in arbitrary combinational circuits”, Autom. Remote Control, 41:11 (1981), 1600–1606 |
|