|
Физика низкоразмерных структур
Изменение сопротивления тонких пленок Bi$_2$Se$_3$ и гетероструктур Bi$_2$Se$_3$ на графене при растягивающих деформациях
Н. А. Небогатиковаa, И. В. Антоноваab, Р. А. Соотсa, К. А. Кохc, Е. С. Климоваc, В. А. Володинad a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Новосибирский государственный технический университет,
630087 Новосибирск, Россия
c Институт геологии и минералогии им. В. С. Соболева СО РАН, 630058 Новосибирск, Россия
d Новосибирский государственный университет,
630090 Новосибирск, Россия
Аннотация:
Создание вертикальных гетероструктур Bi$_2$Se$_3$ на графене, полученных методом физического осаждения из газовой фазы, приводит не только к более совершенной структуре и проводимости слоя Bi$_2$Se$_3$, но и к улучшению механических свойств. Пленки Bi$_2$Se$_3$ с толщиной 20–40 nm на CVD-графене слабо меняли свое сопротивление при растягивающих деформациях, создаваемых при изгибе структур. Было установлено, что сопротивление возрастает всего на 20–30% при растяжении до 3.3%. При выращивании Bi$_2$Se$_3$ на слое напечатанного графена сформирована неоднородная по площади и толщине пленка Bi$_2$Se$_3$, трескающаяся при деформации более 1.5%.
Ключевые слова:
вертикальные гетероструктуры, Bi$_2$Se$_3$ на графене, растягивающие деформации, изменение сопротивления.
Поступила в редакцию: 13.11.2023 Исправленный вариант: 08.12.2023 Принята в печать: 18.12.2023
Образец цитирования:
Н. А. Небогатикова, И. В. Антонова, Р. А. Соотс, К. А. Кох, Е. С. Климова, В. А. Володин, “Изменение сопротивления тонких пленок Bi$_2$Se$_3$ и гетероструктур Bi$_2$Se$_3$ на графене при растягивающих деформациях”, ЖТФ, 94:2 (2024), 261–266
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6711 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v94/i2/p261
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 7 | PDF полного текста: | 2 |
|