Аннотация:
Изучена проводимость кристаллов Bi12TiO20:Ru на переменном токе в интервале частот 102… 106 Hz и температур 293 … 773 K. Анализ экспериментальных данных проводится в рамках модели коррелированных барьерных прыжков. В исследуемом материале потенциальные барьеры обусловлены наличием блочной структуры, дефектов кристаллической решетки, а также присутствием примеси рутения. В легированных монокристаллах титаната висмута определены микропараметры, характеризующие процесс переноса заряда.
Образец цитирования:
В. Т. Аванесян, К. И. Пайма, В. М. Стожаров, “Особенности электропереноса в структуре фоторефрактивного легированного кристалла Bi12TiO20:Ru”, Физика твердого тела, 59:6 (2017), 1056–1059; Phys. Solid State, 59:6 (2017), 1076–1079
\RBibitem{AvaPaiSto17}
\by В.~Т.~Аванесян, К.~И.~Пайма, В.~М.~Стожаров
\paper Особенности электропереноса в структуре фоторефрактивного легированного кристалла Bi$_{12}$TiO$_{20}$:Ru
\jour Физика твердого тела
\yr 2017
\vol 59
\issue 6
\pages 1056--1059
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt9543}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2017.06.44476.363}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29405109}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2017
\vol 59
\issue 6
\pages 1076--1079
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783417060026}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt9543
https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i6/p1056
Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
M. Isik, N. M. Gasanly, N. H. Darvishov, V. E. Bagiev, “Spectroscopic ellipsometry study of Bi12TiO20 single crystals”, J Mater Sci: Mater Electron, 32:6 (2021), 7019
В. Т. Аванесян, И. В. Писковатскова, “Фотодиэлектрический эффект в кристаллах силленита Bi12SiO20”, Физика и техника полупроводников, 54:1 (2020), 22–24; V. T. Avanesyan, I. V. Piskovatskova, “Photodielectric effect in Bi12SiO20 sillenite crystals”, Semiconductors, 54:1 (2020), 19–21
В. Т. Аванесян, И. В. Писковатскова, В. М. Стожаров, “Влияние рентгеновского излучения на оптические свойства фоторефрактивных кристаллов силиката висмута”, Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1043–1046; V. T. Avanesyan, I. V. Piskovatskova, V. M. Stozharov, “Effect of X-ray radiation on the optical properties of photorefractive bismuth-silicate crystals”, Semiconductors, 53:8 (2019), 1024–1027