|
Физика поверхности, тонкие пленки
Исследование валентного перехода в системе О$_{2}$–Yb–Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением
М. В. Кузьмин, М. А. Митцев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
С помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением проведены исследования структур Yb-Si(111) и O$_{2}$–Yb–Si(111) и получены данные о распределение двух- и трехвалентных ионов в нанопленках иттербия в случае, когда адсорбированный слой молекул на их поверхности еще не полностью сформирован и валентный переход Yb$^{2+}$ $\to$ Yb$^{3+}$ не завершен. Показано, что распределение ионов Yb$^{2+}$ и Yb$^{3+}$ вглубь нанопленок близко к изотропному и что его протяженность составляет 9 или более монослоев. Полученные результаты свидетельствуют о том, что в формировании 5$d$-зоны иттербия, стимулированном адсорбированными молекулами, участвуют все атомы нанопленки, подтверждая предположения, сделанные в более ранних публикациях.
Поступила в редакцию: 30.03.2017
Образец цитирования:
М. В. Кузьмин, М. А. Митцев, “Исследование валентного перехода в системе О$_{2}$–Yb–Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением”, Физика твердого тела, 59:10 (2017), 2032–2036; Phys. Solid State, 59:10 (2017), 2058–2062
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt9439 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i10/p2032
|
|