Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Международная конференция ''Механизмы и нелинейные проблемы нуклеации, роста кристаллов и тонких пленок'' , посвященная памяти выдающегося физика-теоретика профессора В. В. Слезова (Сборник трудов) Санкт-Петербург, 1-5 июля 2019 г. Полупроводники
Исследование упругих свойств пленок SiC, синтезированных на подложках Si методом замещения атомов
Аннотация:
Исследованы упругие свойства наномасштабной пленки карбида кремния, выращенной на кремниевой подложке методом замещения атомов. Впервые методом наноиндентирования измерен модуль Юнга наномасштабного карбида кремния. Методами оптической профилометрии и спектральной эллипсометрии исследованы структурные характеристики пленки карбида кремния на кремнии, а именно, рассчитана шероховатость пленки и ее толщина.
С.А. Кукушкин частично выполнял данную работу в рамках проектной части гос. задания, проект № 16.2811.2017/4.6 Министерства науки и высшего образования РФ. Экспериментальные исследования выполнялись с использованием уникальной научной установки “Физика, химия, и механика кристаллов и тонких пленок” (ИПМаш РАН, Санкт-Петербург). А.В. Осипов выполнял эту работу в рамках проекта РНФ № 19-72-30004.
Поступила в редакцию: 16.07.2019 Исправленный вариант: 16.07.2019 Принята в печать: 25.07.2019
Образец цитирования:
А. С. Гращенко, С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, “Исследование упругих свойств пленок SiC, синтезированных на подложках Si методом замещения атомов”, Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2313–2315; Phys. Solid State, 61:12 (2019), 2310–2312