|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Международная конференция ''Механизмы и нелинейные проблемы нуклеации, роста кристаллов и тонких пленок'' , посвященная памяти выдающегося физика-теоретика профессора В. В. Слезова (Сборник трудов) Санкт-Петербург, 1-5 июля 2019 г.
Полупроводники
Исследование упругих свойств пленок SiC, синтезированных на подложках Si методом замещения атомов
А. С. Гращенкоa, С. А. Кукушкинab, А. В. Осиповc a Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург
b Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Аннотация:
Исследованы упругие свойства наномасштабной пленки карбида кремния, выращенной на кремниевой подложке методом замещения атомов. Впервые методом наноиндентирования измерен модуль Юнга наномасштабного карбида кремния. Методами оптической профилометрии и спектральной эллипсометрии исследованы структурные характеристики пленки карбида кремния на кремнии, а именно, рассчитана шероховатость пленки и ее толщина.
Ключевые слова:
наноиндентирование, атомное замещение, карбид кремния, карбид кремния на кремнии, модуль Юнга.
Поступила в редакцию: 16.07.2019 Исправленный вариант: 16.07.2019 Принята в печать: 25.07.2019
Образец цитирования:
А. С. Гращенко, С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, “Исследование упругих свойств пленок SiC, синтезированных на подложках Si методом замещения атомов”, Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2313–2315; Phys. Solid State, 61:12 (2019), 2310–2312
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt8555 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v61/i12/p2313
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 53 | PDF полного текста: | 25 |
|